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以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）

  • A、0.03um
  • B、0.05um
  • C、0.10um

参考答案

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考题 深度千分尺基座工作面的平面度不大于（）
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考题 用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
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考题 技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。
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考题 在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
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考题 如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
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考题 新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A、技术光波干涉法B、比较法C、光隙法
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考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
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考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
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考题 用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
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考题 单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉
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考题 单选题对分度值为0.02mm的游标卡尺，检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以（）方法检定。A 比较法B 技术光波干涉法C 光隙法
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考题 问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
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考题 填空题深度千分尺基座工作面的平面度不大于（）
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考题 单选题某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A 0.01mmB 0.02umC 0.03um
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考题 判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A 对B 错
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考题 单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉
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考题 单选题长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A 用刀口尺以光隙法检定B 用平晶以技术光波干涉法分段检定C 用自准直仪以节距法检定
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