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15/50A型试片,分子表示()分母表示()。
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考题
用分数形式表示附加的定位轴线时,()。A、分子表示前一轴线编号,分母表示附加轴线的编号B、分母表示前一轴线的编号,分子表示附加轴线的编号C、分母表示后一轴线的编号,分子表示附加轴线的编号D、分子表示后一轴线的编号,分母表示附加轴线的编号
考题
磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()A、试片厚度为15/100mmB、试片上的槽深为15/100mmC、试片厚度100μm,槽深15μmD、槽深100μm,槽宽15μm
考题
单选题磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()A
试片厚度为15/100mmB
试片上的槽深为15/100mmC
试片厚度100μm,槽深15μmD
槽深100μm,槽宽15μm
考题
单选题地形图的比例尺用分子为1的分数形式表示时()A
分母大,比例尺大,表示地形详细B
分母小,比例尺小,表示地形概略C
分母大,比例尺小,表示地形详细D
分母小,比例尺大,表示地形详细
考题
单选题磁粉探伤用标称为15/100的A型灵敏度试片,它表示()。A
试片厚度为15/100mmB
槽深为15/100mmC
试片厚度100微米,槽深15微米D
槽宽15微米,槽深100微米
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