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频域分析过程中，深部缺陷和浅部缺陷的频差分别为Δf2和Δf1，则（）

  • A、Δf2﹥Δf1
  • B、Δf2﹤Δf1
  • C、Δf2=Δf1
  • D、不好比较

参考答案

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考题 某患者APTT为52s/35s，PT为13s/11s，可能性最大的是A、FⅩ缺陷B、FⅡ缺陷C、FⅪ缺陷D、FⅧ缺陷E、FⅫ缺陷
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考题 反射波曲线中出现多次反射的原因是()。A.缺陷在浅部 B.缺陷在深部 C.断桩 D.轻微扩径
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考题 PT正常，APTT延长，提示A.FⅧ缺陷B.FⅤ缺陷C.FⅩ缺陷D.FⅫ缺陷E.FⅡ缺陷
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考题 某钻孔灌注桩，桩长20m，用低应变法进行桩身完整性检测时，发现速度时域曲线上有三个峰值，第一、第三峰值对应的时间刻度分别为0.2ms和10.3ms，初步分析认为该桩存在缺陷。在速度幅频曲线上，发现正常频差为100Hz，缺陷引起的相邻谐振峰间频差为180Hz，试计算缺陷位置最接近下列哪个选项（　　）A． 7.1m B． 10.8m C． 11.0m D． 12.5m
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考题 PT正常，APTT延长，提示A.FⅧ缺陷B.FⅩ缺陷C.FⅡ缺陷D.FXⅢ缺陷E.FⅤ缺陷
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考题 缺陷桩当缺陷位置较浅时，频差也较小。
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考题 设备部专工每周、每月应对本专业的设备缺陷情况进行（）次分析，分析设备缺陷发生的原因和规律，提出相应对策。A、一B、二C、三
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考题 一维波动理论不适用于测桩的浅部缺陷。
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考题 浅部或极浅部严重缺陷桩的波形特征是什么？根据激振条件，说明如何选择测量传感器。
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考题 发电部专工负责周、月度设备缺陷的统计分析、总结，上报设备部缺陷管理专工。
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考题 大理供电局《设备风险评估管理业务指导书》中对“频发缺陷”的定义是：同一台设备或者同厂家、同型号设备的同一部件或部位的缺陷，或者同一类型的缺陷发生（）的为频发缺陷。A、2次及以上B、3次及以上C、3次以上
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考题 频域曲线为接近c/（2L）的单一频率，则桩身（）。A、浅部有严重缺陷B、中部有严重缺陷C、端部有严重缺陷D、完整桩
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考题 高应变法对桩身浅部缺陷位置的判定存在盲区。
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考题 PT正常，APTT延长，提示（）。A、FⅧ缺陷B、FⅩ缺陷C、FⅡ缺陷D、FXⅢ缺陷E、FⅤ缺陷
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考题 在受到过度清洗时，以下那种缺陷最容易漏检？（）A、深而窄的缺陷B、浅而窄的缺陷C、浅而宽的缺陷D、深而宽的缺陷
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考题 PT正常，APTT延长，提示（）。A、FⅧ缺陷B、FⅩ缺陷C、FⅡ缺陷D、FⅫ缺陷E、FⅤ缺陷
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考题 凝血酶时间测定正常，主要提示（）。A、FⅧ无缺陷B、FⅪ无缺陷C、Fg无缺陷D、PAⅠ无缺陷E、FⅡ无缺陷
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考题 反射波曲线中出现多次反射的原因是（）。A、缺陷在浅部B、缺陷在深部C、断桩D、轻微扩径
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考题 力频率成分与冲击脉冲中的（）有关，浅部缺陷用（）的脉冲，深部缺陷用（）的脉冲。
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考题 一般地讲，低应变能测出桩的深部缺陷，而高应变只能测出桩的浅部缺陷。
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考题 对于应力波反射法，要检测桩身深部缺陷，应选用可产生较丰实的（）信号的材质锤头。A、高频B、低频C、宽频D、窄频
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考题 单选题频域分析过程中，深部缺陷和浅部缺陷的频差分别为Δf2和Δf1，则（）A Δf2﹥Δf1B Δf2﹤Δf1C Δf2=Δf1D 不好比较
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考题 多选题反射波曲线中出现多次反射的原因是（）。A缺陷在浅部B缺陷在深部C断桩D轻微扩径
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考题 单选题频域曲线为接近c/（2L）的单一频率，则桩身（）。A 浅部有严重缺陷B 中部有严重缺陷C 端部有严重缺陷D 完整桩
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考题 判断题一般地讲，低应变能测出桩的深部缺陷，而高应变只能测出桩的浅部缺陷。A 对B 错
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考题 填空题力频率成分与冲击脉冲中的（）有关，浅部缺陷用（）的脉冲，深部缺陷用（）的脉冲。
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考题 判断题缺陷桩当缺陷位置较浅时，频差也较小。A 对B 错
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