考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块B、一块C、二块
考题
使用平面平晶、平行平晶测量前,必须擦净平晶的测量面和被测表面,否则会影响()的产生,甚至会()。
考题
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
考题
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?
考题
测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?
考题
对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?
考题
用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。A、一块B、二块C、三块
考题
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。
考题
单选题千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A
四块B
一块C
二块
考题
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。A
对B
错
考题
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。A
对B
错
考题
问答题测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?
考题
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?
考题
单选题用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。A
一块B
二块C
三块
考题
问答题怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?
考题
填空题使用平面平晶、平行平晶测量前,必须擦净平晶的测量面和被测表面,否则会影响()的产生,甚至会()。