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外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检

  • A、光洁度样板
  • B、表面粗糙度比较样块
  • C、比较仪
  • D、放大镜

参考答案

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考题 使用外径千分尺前,应先将校对量杆置于()和测微螺杆之间。 A、测力装置B、定位环C、测砧D、微分筒
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考题 用千分尺测量工件时,先旋转微分套筒,当()时改用旋转棘轮,直到棘轮发出2－3下“卡卡”声时,开始读数 A、测砧与工件测量表面接近B、测砧远离工件表面C、测砧与测微螺杆接近D、测砧远离测微螺杆。
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考题 外径千分尺和校对量杆的工作面表面粗糙度Ra应不大于()。 A、0.04μmB、0.05μmC、0.10μm
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考题 下列哪些结构是外径千分尺组成部分（）A、测砧B、内外测量爪C、测力装置D、隔热装置E、转数指针
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考题 测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。
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考题 外径千分尺的读数机构是由（）等部分组成的。A、固定测砧B、测力装置C、固定套管D、微分筒E、测微螺杆F、螺纹轴套
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考题 测量时，外径千分尺的（）和测量件直接接触。A、砧座和测微螺杆B、手柄和棘爪C、测微螺杆和棘爪D、微分筒和棘爪
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考题 下列测量中属于相对测量的有（）。A、用千分尺测外径B、用光学比较仪测外径C、用游标卡尺测外径D、用内径千分尺测量内径
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考题 比较判别法是将被检零件表面与粗糙度样板（标准块）用目测进行比较，确定被测表面粗糙度等级。
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考题 v型测砧千分尺是用于测量等分（）数槽零件外径尺寸的一伸待殊测微量具。
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考题 V形测砧千分尺是用于测量等分奇数槽零件外径尺寸的一种特殊测微量具。
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考题 下列测量中属于相对测量的有（）。A、用千分尺测外径B、用光学比较仪测外径C、用内径百分表测内径D、用内径千分尺测量内径E、用游标卡尺测外径
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考题 在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
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考题 外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于（）A、0.02μmB、0.03μmC、0.04μmD、0.05μm
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考题 1级外径千分尺两测砧工作面的平面度公差为（）A、0.3μmB、0.6μmC、0.9μmD、1.0μm
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考题 千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A、200mmB、300mmC、400mm
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考题 外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
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考题 填空题在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
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考题 判断题测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。A 对B 错
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考题 多选题下列哪些结构是外径千分尺组成部分（）A测砧B内外测量爪C测力装置D隔热装置E转数指针
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考题 单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于（）A 0.02μmB 0.03μmC 0.04μmD 0.05μm
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考题 单选题1级外径千分尺两测砧工作面的平面度公差为（）A 0.3μmB 0.6μmC 0.9μmD 1.0μm
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考题 单选题千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A 200mmB 300mmC 400mm
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考题 单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检A 光洁度样板B 表面粗糙度比较样块C 比较仪D 放大镜
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考题 填空题外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
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考题 多选题下列测量中属于相对测量的有（）。A用千分尺测外径B用光学比较仪测外径C用内径百分表测内径D用内径千分尺测量内径E用游标卡尺测外径
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考题 单选题下列测量中属于相对测量的有（）。A 用千分尺测外径B 用光学比较仪测外径C 用游标卡尺测外径D 用内径千分尺测量内径
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