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测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。

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考题 使用外径千分尺前,应先将校对量杆置于()和测微螺杆之间。 A、测力装置B、定位环C、测砧D、微分筒
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考题 用千分尺测量工件时,先旋转微分套筒,当()时改用旋转棘轮,直到棘轮发出2－3下“卡卡”声时,开始读数 A、测砧与工件测量表面接近B、测砧远离工件表面C、测砧与测微螺杆接近D、测砧远离测微螺杆。
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考题 千分尺测量时,要使测微螺杆轴线与工件的被测尺寸方向(),不要倾斜。 A、相反B、平行C一致
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考题 千分尺是一种精度较高的量具，由尺架、测微螺杆、测力装置等部分组成，其测量范围为().A.0-25mmB.25-50mmC.50-75mmD.包括A、B、C
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考题 千分表测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于30mm的千分尺用百分表检定。
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考题 在使用杠杆千分尺测量时，杠杆干分尺应以测微螺杆的轴线方向压向工件测量面，使测砧处于不受力状态，这样才能确保杠杆的测力准确性。
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考题 外径千分尺的读数机构是由（）等部分组成的。A、固定测砧B、测力装置C、固定套管D、微分筒E、测微螺杆F、螺纹轴套
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考题 千分尺主要由尺架、砧座、（）、棘轮装置和锁紧装置等组成。A、量爪B、指针C、横杆D、测微螺杆
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考题 使用外径千分尺测量时，测微螺杆快靠近被测物体时应停止转动活动套管，而改用棘轮定位器旋钮使测微螺杆与被测物体接触，直到听到二三响“咔咔”声为止，避免产生过大的压力。
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考题 测量时，外径千分尺的（）和测量件直接接触。A、砧座和测微螺杆B、手柄和棘爪C、测微螺杆和棘爪D、微分筒和棘爪
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考题 顺时针转动千分尺的（），通过偏心锁紧测微螺杆。A、棘轮盘B、砧座C、手柄D、螺钉
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考题 深度千分尺的测微螺杆移动量是25mm。
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考题 千分尺测微螺杆的移动量一般为25mm。
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考题 使用千分尺测量零件前，应擦净测砧和测微螺杆端面并校准（）。
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考题 使用外径千分尺时，不得强行转动微分筒，要尽量使用（）。A、止动环B、测力装置C、测砧D、测微螺杆
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考题 使螺旋测微器的测微螺杆与测砧相接触，发现微分筒的零线与固定套筒的中线没有对齐，则表明测量时存在（）。A、系统误差B、随机误差C、粗大误差D、相对误差
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考题 在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
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考题 外径千分尺是应用了（），借助测微螺杆与测微螺母的精密配合，将测微螺杆的旋转运动变成直线位移进行测量的。
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考题 千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A、200mmB、300mmC、400mm
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考题 千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。
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考题 千分尺测微螺杆的测量位移是（　）mm。A、25B、50C、100D、150
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考题 判断题千分表测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于30mm的千分尺用百分表检定。A 对B 错
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考题 填空题在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
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考题 判断题测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。A 对B 错
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考题 填空题外径千分尺是应用了（），借助测微螺杆与测微螺母的精密配合，将测微螺杆的旋转运动变成直线位移进行测量的。
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考题 判断题千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。A 对B 错
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考题 单选题千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A 200mmB 300mmC 400mm
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