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一患者缺失，间隙正常，银汞充填体，已作牙髓治疗，位置正常，与下颌对牙的覆覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是（）
- A、双端固定桥
- B、粘结固定桥
- C、单端固定桥
- D、直接作可摘局部义齿
- E、全冠修复后制作可摘局部义齿修复
参考答案
更多 “一患者缺失，间隙正常，银汞充填体，已作牙髓治疗，位置正常，与下颌对牙的覆覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是（）A、双端固定桥B、粘结固定桥C、单端固定桥D、直接作可摘局部义齿E、全冠修复后制作可摘局部义齿修复” 相关考题
考题
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。最可能的原因是A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点处理应为A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者一侧后牙食物嵌塞，嵌塞后引起疼痛，持续数秒，要求治疗。查：龋，探敏，叩痛(-)，牙髓温度测验结果正常。治疗应为
A.磨除法
B.再矿化
C.药物治疗
D.银汞直接充填
E.垫底，银汞充填
考题
一患者缺失，间隙约4mm．银汞充填体，已作牙髓治疗，位置正常，与下颌对牙的覆覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是A.半固定桥
B.双端固定桥
C.双端固定桥
D.全冠修复后制作可摘局部义齿修复
E.直接作可摘局部义齿
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩(一)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛处理应为
A.去旧充填体，改其他修复材料充填
B.观察
C.牙髓治疗
D.脱敏
E.去旧充填体，重新垫底充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。最可能的原因是（）。A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点
考题
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。
处理应为（ ）A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。
最可能的原因是（ ）A、备洞时刺激牙髓B、充填时未垫底C、流电作用D、充填体悬突E、充填体高点
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。如诊断为慢性牙髓炎，处理应为（）。A、观察B、脱敏C、安抚治疗D、开髓引流E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛处理应为（）。A、观察B、脱敏C、去旧充填体，重新垫底充填D、牙髓治疗E、去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
单选题一患者缺失，间隙正常，银汞充填体，已作牙髓治疗，位置正常，与下颌对牙的覆覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是（）A
双端固定桥B
粘结固定桥C
单端固定桥D
直接作可摘局部义齿E
全冠修复后制作可摘局部义齿修复
考题
单选题患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛如诊断为慢性牙髓炎，处理应为（）。A
观察B
脱敏C
安抚治疗D
开髓引流E
去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
单选题患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛处理应为（）。A
观察B
脱敏C
去旧充填体，重新垫底充填D
牙髓治疗E
去旧充填体，改其他修复材料充填
考题
单选题患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩（-）冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。处理应为（）。A
观察B
脱敏C
去旧充填体，重新垫底充填D
牙髓治疗E
去旧充填体，改其他修复材料充填
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