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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
A、球面干涉
B、等倾干涉
C、等厚干涉
参考答案
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考题
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。
A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
考题
13、牛顿环测量透镜曲率半径实验中,光波波长越长,则()?A.同级干涉环直径越大,干涉条纹越疏。B.同级干涉环直径越大,干涉条纹越密。C.同级干涉环直径越小,干涉条纹越疏。D.同级干涉环直径越小,干涉条纹越密。
考题
迈克尔孙干涉实验中,干涉仪两平面反射镜严格垂直时,形成等厚干涉条纹。
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