用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。 A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉

题目内容（请给出正确答案）

用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。

A、球面干涉

B、等厚干涉

C、等倾干涉

参考答案

考题对钢板的主要检验项目是()。 A、平面度和厚度公差B、直线度和平面度C、直线度和厚度公差D、平面度和断面垂直度

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考题千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

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考题使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。

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考题用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。 A、0.9μmB、0C、1.8μm

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考题在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。 A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm

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考题在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。 A、变凹B、变凸C、不变

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考题若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。 A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

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考题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。 A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

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考题用单色面光源照射在置于空气中的厚度均匀且上下表面平行的透明薄膜上并产生等倾干涉圆条纹，若可任意改变透明薄膜的厚度，则当薄膜厚度增加时，视场中干涉环向外扩张；反之，当薄膜厚度减小时，视场中干涉环向里缩。

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