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在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。

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更多 “在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。” 相关考题
考题 锻件超声检测中，当缺陷回波很高、并有多次重复反射，而底波严重下降甚至消失，说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。
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考题 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。
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考题 锻件检测时，为什么由缺陷引起底波降低量的质量等级评定，仅适用于声程大于近场 区长度的缺陷？
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考题 超声波检测锻件时， 当缺陷尺寸小于声束截面时，一般可采用（）。A、 6dB法B、 绝对灵敏度法C、 当量法D、 以上都对
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考题 在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
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考题 当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。
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考题 锻件检测，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A、 大于当量尺寸B、 等于当量尺寸C、 小于当量尺寸D、 以上都可能
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考题 在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
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考题 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸
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考题 超声波检测中所谓缺陷的指示长度，指的是（）A、采用当量试块比较法测定的结果B、对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D、缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同
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考题 半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
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考题 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才需要采用测长法确定缺陷长度。
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考题 接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
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考题 接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。
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考题 用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
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考题 单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A 小于实际尺寸B 接近声束宽度C 稍大于实际尺寸D 等于晶片尺寸
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考题 单选题锻件检测，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A  大于当量尺寸B  等于当量尺寸C  小于当量尺寸D  以上都可能
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考题 填空题接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
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考题 问答题锻件检测时，为什么由缺陷引起底波降低量的质量等级评定，仅适用于声程大于近场 区长度的缺陷？
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考题 判断题在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。A 对B 错
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考题 填空题接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。
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考题 判断题当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。A 对B 错
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考题 单选题超声波检测锻件时， 当缺陷尺寸小于声束截面时，一般可采用（）。A  6dB法B  绝对灵敏度法C  当量法D  以上都对
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考题 判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A 对B 错
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考题 判断题在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。A 对B 错
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考题 判断题在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。A 对B 错
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考题 单选题超声波检测中所谓缺陷的指示长度，指的是（）A 采用当量试块比较法测定的结果B 对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果C 根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D 缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同
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