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判断题
在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
A

B


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考题 ()应用延伸度法对缺陷进行定量。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.点状缺陷D.平面型缺陷

考题 锻件超声检测中,当缺陷回波很高、并有多次重复反射,而底波严重下降甚至消失,说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。

考题 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。

考题 对于超声波检测法中的测长法,在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷高度降到规定位置时,探头移动的距离,即为缺陷的指示长度,上述方法被称为相对灵敏度测长法。

考题 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。

考题 超声波检测锻件时, 当缺陷尺寸小于声束截面时,一般可采用()。A、 6dB法B、 绝对灵敏度法C、 当量法D、 以上都对

考题 在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。

考题 焊缝横波检测缺陷定量包括()A、用距波曲线评定缺陷波幅B、用测长法测定缺陷指示长度C、A和BD、用当量法确定缺陷当量

考题 锻件检测,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会()A、 大于当量尺寸B、 等于当量尺寸C、 小于当量尺寸D、 以上都可能

考题 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。

考题 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸

考题 半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。

考题 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才需要采用测长法确定缺陷长度。

考题 当用6dB法估计缺陷面积时,估计缺陷长度时,缺陷指示长度必须()该处的声束截面直径(或长度)。A、大于B、等于C、小于

考题 ()应用延伸度法对缺陷进行定量.A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、点状缺陷D、平面型缺陷

考题 用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 判断题对于超声波检测法中的测长法,在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷高度降到规定位置时,探头移动的距离,即为缺陷的指示长度,上述方法被称为相对灵敏度测长法。A 对B 错

考题 单选题焊缝横波检测缺陷定量包括()A 用距波曲线评定缺陷波幅B 用测长法测定缺陷指示长度C A和BD 用当量法确定缺陷当量

考题 单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A 小于实际尺寸B 接近声束宽度C 稍大于实际尺寸D 等于晶片尺寸

考题 单选题锻件检测,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会()A  大于当量尺寸B  等于当量尺寸C  小于当量尺寸D  以上都可能

考题 填空题用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 判断题在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。A 对B 错

考题 单选题()应用延伸度法对缺陷进行定量.A 大于声束截面的缺陷B 小于声束截面的缺陷C 点状缺陷D 平面型缺陷

考题 单选题超声波检测锻件时, 当缺陷尺寸小于声束截面时,一般可采用()。A  6dB法B  绝对灵敏度法C  当量法D  以上都对

考题 判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A 对B 错

考题 判断题在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。A 对B 错

考题 判断题只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。A 对B 错