考题
锻件探伤中，荧光屏上出现”林状(丛状)波“时，是由于()A.工件中有小而密集缺陷
B.工件材料中有局部晶粒粗大区域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波
D.以上全部
考题
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于探头灵敏度过高。
考题
对接焊接接头斜探头检测时，与主声束垂直的缺陷，缺陷表面状态对回波高度的影响是（）。A、 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B、 无影响C、 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D、 以上都对
考题
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A、缺陷回波B、迟到回波C、底面回波D、侧面回波
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部
考题
锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
使用串行方式探头探伤时，荧光屏上（），判定焊缝没有缺陷。A、有一个固定回波B、有二个固定回波C、没有回波D、有九个3dB回波
考题
A型超声波探伤仪，荧光屏上的垂直显示表示（）。A、回波大小B、缺陷位置C、材料厚度D、传播时间
考题
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
考题
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
考题
锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。A、30mmB、35mmC、40mmD、50mm
考题
70度探头属反射式探伤法，探伤中当遇有伤损，且反射回波能被探头接收时，荧光屏显示伤波并报警.
考题
单选题锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
迟到波D
以上全部
考题
判断题70度探头属反射式探伤法，探伤中当遇有伤损，且反射回波能被探头接收时，荧光屏显示伤波并报警.A
对B
错
考题
单选题单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A
来自工件表面的杂波B
来自探头的噪声C
工件上近表面缺陷的回波D
耦合剂噪声
考题
单选题在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A
缺陷回波B
迟到回波C
底面回波D
侧面回波
考题
单选题A型超声波探伤仪，荧光屏上的垂直显示表示（）。A
回波大小B
缺陷位置C
材料厚度D
传播时间
考题
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A
平行且靠近探测面B
与声速方向平行C
与探测面成较大角度D
平行且靠近底面
考题
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A
平行且靠近探测面B
与声束方向平行C
与探测面成较大角度D
平行且靠近底面
考题
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A
平行且靠近探测面B
与声束方向平行C
与探测面成较大角度D
平行且靠近底面
考题
单选题锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
缺陷形状和取向D
以上全部
考题
判断题直探头在圆柱形轴类锻件外圆探伤时，发现的游动回波都是裂纹回波。A
对B
错
考题
单选题使用串行方式探头探伤时，荧光屏上（），判定焊缝没有缺陷。A
有一个固定回波B
有二个固定回波C
没有回波D
有九个3dB回波