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从长棒一端进行纵波检查时，纵向分布的缺陷最可能发生的影响是（）

  • A、使底波显著降低
  • B、在始波和底波之间产生回波，无法确定反射体的位置
  • C、底波后面的迟到波间距改变或波幅降低
  • D、在时基线上产生较多的杂波

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考题 锻件探伤中，下面有关”幻象波“的叙述哪点是不正确的？()A.有时幻象波在整个扫描线上连续移动 B.有时幻象波在扫描线上是稳定的且位于底波之前 C.用耦合剂拍打工件底面时，此波会跳动或波幅降低 D.用耦合剂拍打工件底面时，此波无变化
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考题 用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。
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考题 检测厚钢板采用垂直法探伤时，根据（）前后产生的回波情况进行缺陷评定。A、第一次底波B、第二次底波C、多次底波D、缺陷的水平距离
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考题 长轴类锻件从端面作轴向检测时，容易出现的非缺陷回波是（）A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波
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考题 在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。A、出现在第一次底波之前B、出现在第一次底波之后C、没有缺陷回波，只有底波降低或消失D、以上都有可能
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考题 直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。A、底波被较大的面积性缺陷反射B、底波被较小的单个球状缺陷反射C、底波的能量被转换为电能而吸收D、以上都可能
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考题 伤过程中如果发现没有轮毂波（轮心波）出现，且始波后面无（）出现，则判定镶入部接触不良。A、林状波B、杂波C、始波D、底波
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考题 与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
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考题 直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。A、窄脉冲B、衰减C、波型转换D、粗晶
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考题 轨底迟到波是超声波声束在钢轨侧壁上产生反射和（），部分入射轨底的超声波声程增加而形成。A、透射B、反射率C、波型转换D、透过
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考题 长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。A、三角反射波B、61度反射波C、轮廓回波D、迟到波
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考题 轨底迟到波显示在轨底波之后。
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考题 超声波探伤频率的选择，频率上限一般由衰减（底波出现状况）和（）信号的大小来决定。A、伤波B、脉冲波C、迟到回波D、草状回波
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考题 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱
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考题 轨底迟到波是超声波声束在钢轨侧壁上产生反射和波型转换，部分入射轨底的超声波声程增加而形成。
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考题 使用0°探头穿透式探伤时判伤的依据是（）。A、底波消失B、底波减弱C、反射回波D、底波减弱或消失
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考题 在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。A、出现在第一次底波之前B、出现在第一次底波之后C、没有缺陷回波，只有底波降低或消失D、以上都不可能
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考题 被工件底面或缺陷反射后的声波，称为（）。A、回波B、底波C、伤波D、发射波
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考题 单选题使用0°探头穿透式探伤时判伤的依据是（）。A 底波消失B 底波减弱C 反射回波D 底波减弱或消失
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考题 单选题用直探头从端部探测直径为d的细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生波型变换所致，其迟到波间距对于钢材为（）dA 0.15B 0.36C 0.76D 0.9
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考题 单选题从长棒一端进行纵波检查时，纵向分布的缺陷最可能发生的影响是（）A 使底波显著降低B 在始波和底波之间产生回波，无法确定反射体的位置C 底波后面的迟到波间距改变或波幅降低D 在时基线上产生较多的杂波
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考题 多选题在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A缺陷回波B底波或参考回波的减弱C底波或参考回波的消失D接收探头接收到的能量的减弱
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考题 判断题轨底迟到波是超声波声束在钢轨侧壁上产生反射和波型转换，部分入射轨底的超声波声程增加而形成。A 对B 错
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考题 单选题被工件底面或缺陷反射后的声波，称为（）。A 回波B 底波C 伤波D 发射波
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考题 判断题用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。A 对B 错
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考题 判断题轨底迟到波显示在轨底波之后。A 对B 错
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考题 多选题在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。A出现在第一次底波之前B出现在第一次底波之后C没有缺陷回波，只有底波降低或消失D以上都不可能
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