考题
仪器抑制旋钮的功能是()A.只抑制杂波而对缺陷波无影响
B.限制检波后的信号输出幅度，同时抑制杂波和缺陷波
C.可以改善仪器的垂直线性
D.可以提高仪器的动态范围
考题
仪器抑制旋钮的功能是（）A、只抑制杂波而对缺陷波无影响B、限制检波后的信号输出幅度，同时抑制杂波和缺陷波C、可以改善仪器的垂直线性D、可以提高仪器的动态范围
考题
使用AVG曲线法定量时，仪器调节中可以使用调节深度补偿和抑制。
考题
当超声波检测到一个缺陷时，缺陷波在仪器上出现的情况是（）A、缺陷波出现在底波之前B、缺陷波出现在底波之后C、仪器上无任何波形D、以上情况都是
考题
分贝值差表示反射波幅度相互关系，在确定基准波高后，可以直接用仪器的衰减器读数表示缺陷波相对波高。
考题
斜探头测焊缝时，正确地调整仪器的水平或深度比例主要是为了（）。A、识别焊道回波和缺陷波B、判定缺陷的大小C、判定缺陷的长度D、判断缺陷的位置E、达到a和d的目的
考题
表面波探伤时，仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
考题
测定仪器垂直线性和动态范围时，应将仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮置于关的位置。
考题
对接焊接接头超声检测时应正确校准仪器扫描比例，其目的是（）。A、 对缺陷准确定位B、 判断缺陷波幅C、 判断结构的反射波和缺陷波D、 以上A和 C
考题
斜探头测焊缝时，必须正确调整仪器的水平或深度比例，主要是为了（）A、识别焊道回波和缺陷波B、判定缺陷的大小C、判定缺陷的长度D、判断缺陷的位置E、a和d
考题
直接用缺陷波高来比较缺陷的大小，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（）的位置
考题
表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）。A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
考题
焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A、缺陷定位B、判定缺陷波幅C、判定结构反射波和缺陷波D、判定缺陷性质
考题
超声波焊缝探伤中，用K2的探头探测T=25mm的对接焊缝，仪器按深度1：1调节扫描速度，探伤中在示波屏刻度18和30处出现两个缺陷波，求此两个缺陷在焊缝中的位置？
考题
焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定缺陷反射波和缺陷波D、以上A和C
考题
单选题表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）。A
缺陷深度B
缺陷至探头前沿距离C
缺陷声程D
以上都可以
考题
填空题直接用缺陷波高来比较缺陷的大小，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（）的位置
考题
单选题斜探头测焊缝时，正确地调整仪器的水平或深度比例主要是为了（）。A
识别焊道回波和缺陷波B
判定缺陷的大小C
判定缺陷的长度D
判断缺陷的位置E
达到a和d的目的
考题
单选题直接用缺陷波高来比较缺陷的大小时，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（）的位置A
关B
开C
任意
考题
单选题对接焊接接头超声检测时应正确校准仪器扫描比例，其目的是（）。A
对缺陷准确定位B
判断缺陷波幅C
判断结构的反射波和缺陷波D
以上A和 C
考题
单选题斜探头测焊缝时，必须正确调整仪器的水平或深度比例，主要是为了（）A
识别焊道回波和缺陷波B
判定缺陷的大小C
判定缺陷的长度D
判断缺陷的位置E
a和d
考题
单选题当超声波检测到一个缺陷时，缺陷波在仪器上出现的情况是（）A
缺陷波出现在底波之前B
缺陷波出现在底波之后C
仪器上无任何波形D
以上情况都是
考题
判断题分贝值差表示反射波幅度相互关系，在确定基准波高后，可以直接用仪器的衰减器读数表示缺陷波相对波高。A
对B
错
考题
单选题仪器抑制旋钮的功能是（）A
只抑制杂波而对缺陷波无影响B
限制检波后的信号输出幅度，同时抑制杂波和缺陷波C
可以改善仪器的垂直线性D
可以提高仪器的动态范围
考题
多选题焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A缺陷定位B判定缺陷波幅C判定结构反射波和缺陷波D判定缺陷性质
考题
单选题用K2.5探头探测厚度为45mm的焊缝，仪器按水平1：2.5调节扫描速度，探伤中示波屏上水平刻度3.5大格处发现一缺陷波，此缺陷距探测面的深度为（）。A
35mmB
30mmC
10mmD
40mm
考题
单选题焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）A
缺陷定位B
缺陷定量C
判定缺陷反射波和缺陷波D
以上A和C
