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我们常见的光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大（）

  • A、氦氖激光器
  • B、半导体激光器

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考题 光功率计和光源是进行光纤传输性能测量的一般设备。() A．错误B．正确
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考题 光功率计测量下行光口断链告警的常见原因可能是() A.设备未安装B.设备之间的光纤光模块产生硬件故障C.下级设备复位并重新加载
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考题 PON光功率计和普通光功率计的区别有( )。 A、PON光功率计可以在同一时间测量和显示三个波长，普通光功率计只能测量和显示一个波长B、PON光功率计能将同时在一根光纤中传输的是三个波长进行分离测量，普通光功率计无法分辨一个光纤中的三个波长C、PON光功率计可以不断业务在线测试D、PON光功率可以检车到1310nm的突发信号，普通光功率计不可
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考题 在光纤通信系统发送盘中APC表示()。 A、半导体激光器B、自动温度控制C、驱动控制D、自动光功率控制
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考题 关于光功率计描述正确的是() A. 通过测量发射端机或光网络的绝对功率,一台光功率计就能够评价光端设备的性能。B. 用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗的仪器。C. 在光纤系统中,测量光功率是最基本的。D. 可以测试光纤的长度。
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考题 在测量实践中用得最多的激光器类型是（）。A、氦氖激光器B、液体激光器C、二氧化碳分子激光器D、半导体激光器
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考题 达林顿管有一个特点，就是两个三极管中，前面三极管的功率一般比后面三极管的要小。
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考题 我们常见的半导体激光器光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大。
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考题 光放大器根据其在系统中的不同位置可分为几种，包括（）A、光强度放大B、光功率放大C、光前置放大D、线路放大
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考题 直接调制光发射机是利用射频电视信号来控制半导体激光器的偏流，从而控制激光器的输出光强，采用DFB激光器作光源。
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考题 半导体激光器的输出光功率不会随温度而变化。
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考题 光功率计和光源是进行光纤传输性能测量的一般设备。（）
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考题 红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
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考题 在入户光缆布放完毕后，为确保光配线网（ODN）的光通道衰减值，必须对光链路进行测试。目前基于PON的光功率测量，主要采用两种方法（）。A、采用波长分离PON功率计同时测量每一波长的功率。为了对每个波长提供通过、告警或未通过状态，可以设置功率阈值B、采用普通光功率计测量总的光功率，每次只能测量一个波长C、采用普通光功率计测量总的光功率，每次只能测量二个波长D、采用普通光功率计测量总的光功率，每次只能测量三个波长
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考题 目前基于PON的光功率测量，主要采用两种方法：（）。A、采用普通光功率计测量总的光功率，每次只能测量一个波长B、采用波长分离PON功率计同时测量每一波长的功率。为了对每个波长提供通过、告警或未通过状态，可以设置功率阈值C、采用普通光功率计测量总的光功率，每次只能测量三个波长D、采用普通光功率计测量总的光功率，每次只能测量五个波长
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考题 光功率计测量下行光口断链告警的常见原因可能是（）。A、设备之间的光纤光模块产生硬件故障B、设备未安装C、下级设备复位并重新加载
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考题 PON的光功率下行波长为（），必须用专门的EPON光功率测试仪进行测量，一般的光功率计不能测量。
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考题 EPON的光功率下行波长为1490nm，必须用专门的EPON光功率测试仪进行测量，一般的光功率计不能测量。
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考题 用于光伏功率预测的辐射表测量范围一般为0至（）W/m2。
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考题 判断题EPON的光功率下行波长为1490nm，必须用专门的EPON光功率测试仪进行测量，一般的光功率计不能测量。A 对B 错
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考题 判断题光功率计和光源是进行光纤传输性能测量的一般设备。（）A 对B 错
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考题 判断题我们常见的半导体激光器光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大。A 对B 错
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考题 单选题我们常见的光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大（）A 氦氖激光器B 半导体激光器
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考题 单选题在测量实践中用得最多的激光器类型是（）。A 氦氖激光器B 液体激光器C 二氧化碳分子激光器D 半导体激光器
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