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光纤盘绕工序完成后，可以直接投入使用，不需再用OTDR 对每一根光纤进行复测。

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更多 “光纤盘绕工序完成后，可以直接投入使用，不需再用OTDR 对每一根光纤进行复测。” 相关考题
考题 在用OTDR测量光纤时，对OTDR附近的光纤和相邻事件点的测量要使用窄脉冲，而对光纤远端进行测量时要使用宽脉冲。此题为判断题(对，错)。
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考题 光时域反射仪(OTDR)可以进行( )的测量。 A、光纤长度B、光纤传输衰减C、接头衰减D、故障定位
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考题 确保光缆连接质量必须严格执行OTDR测试,包含()。 A.熔接过程中对每一芯光纤进行实行跟踪监测，检查每一个熔点质量B.每次盘纤后对所盘光纤进行例检，以确定盘纤带来的附加损耗C.封接续盒接对所有光纤进行测量，查明有无漏测和光纤预留空间对光纤及接头有无挤压D.封盒后，对所有光纤进行最后监测，检查封盒是否对光纤有损害E.全错
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考题 下列OTDR不可以测量的是（）。A、光缆重量B、光纤损耗C、光纤距离D、光纤断点位置
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考题 OTDR（光时域反射仪）可以测出光纤的衰耗外，还能测出光纤的（）。
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考题 光纤接续完成后，要使用（）对其进行测试。A、兆欧表B、万用表C、地阻仪D、OTDR
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考题 使用OTDR可以测试到的光纤的指标为（）。A、光纤发光强度B、光纤折射率C、光纤骨架结构D、光纤断点
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考题 可以直接测量光纤距离的仪器是（）。 A、光源B、光功率计C、OTDR
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考题 用光时域反射仪（OTDR）可以直接测试在用光纤的接头损耗。
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考题 用OTDR对某条光缆或某光纤传输链路进行全程光纤背向散射信号曲线测试时，若1550nm波长测试发现曲线上有比较大的损耗台阶，再用1310nm波长复测，若在此波长下损耗台阶（），说明该处存在弯曲过度问题。A、同样大B、无固定规律C、明显增大D、明显变小或消失
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考题 用OTDR进行光纤测量的工序有哪些（）？A、曲线分析B、参数设置C、数据获取D、波长设置
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考题 OTDR不可以测量的是（）。A、光纤距离B、光纤损耗C、光缆重量D、光纤断点位置
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考题 下列OTDR可以测量的是（）。A、光纤距离B、光纤损耗C、光设备发光强度D、光纤断点位置
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考题 光纤直放站可以采取哪些应用方式（）A、一对光纤传输B、与其它通信设备共用一对光纤C、通过波分复用技术采用一根光纤传输D、一点对多点进行传输
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考题 在用OTDR测量光纤时，对OTDR附近的光纤和相邻事件点的测量要使用窄脉冲，而对光纤远端进行测量时要使用宽脉冲。
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考题 用OTDR对光纤进行光纤后向散射信号曲线检查有哪些重要意义？
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考题 下面关于一般中继段测量描述正确的是（）A、一般中继段是指10公里左右B、一般中继段是指20公里左右C、光纤线路损耗在OTDR单程动态范围内时，应对每一条光纤进行两个方向的测量D、光纤线路损耗在OTDR单程动态范围内时，应对每一条光纤进行单方向测量
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考题 OTDR（光时域反射仪）可以测出光纤的哪些参数（）A、光纤的长度B、光纤的衰耗C、光的功率D、光纤的带宽
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考题 用OTDR对一根折射率为n的光纤进行测试时，光脉冲从始端发出再经光纤断点返回的时间为T，那么，断点距始端的距离为（）。
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考题 下列OTDR可以测量的是（）。A、光纤距离B、光纤损耗C、光缆重量D、光纤断点位置
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考题 用单模OTDR模块对多模光纤进行测量时，以下（）结果不正确。A、光纤长度B、光纤损耗C、光接头损耗D、回波损耗
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考题 用OTDR测试仪测试光纤时，（）是不需要设置的参数。A、距离范围和脉冲宽度B、光纤的反射率C、光纤的折射率D、光纤的工作波长
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考题 光纤全部接续完成后应将余纤盘在光纤盘片内，盘绕方向应（），并放置在固定停泊区内。A、相反B、相对C、相背D、一致
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考题 判断题用光时域反射仪（OTDR）可以直接测试在用光纤的接头损耗。A 对B 错
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考题 多选题用OTDR进行光纤测量的工序有哪些（）？A曲线分析B参数设置C数据获取D波长设置
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考题 判断题OTDR法不仅可以测量光纤的损耗，还可以测量光纤的长度、故障点、及背向散射曲线。A 对B 错
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考题 单选题用OTDR对某条光缆或某光纤传输链路进行全程光纤背向散射信号曲线测试时，若1550nm波长测试发现曲线上有比较大的损耗台阶，再用1310nm波长复测，若在此波长下损耗台阶（），说明该处存在弯曲过度问题。A 同样大B 无固定规律C 明显增大D 明显变小或消失
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