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根分叉区病变发生的主要原因是（）
A.坏死的牙髓
B.咬合创伤
C.釉突
D.菌斑
E.外伤
B.咬合创伤
C.釉突
D.菌斑
E.外伤
参考答案
参考解析
解析：菌斑是根分叉病变的主要病因。由于根分叉区病变一旦成立而暴露于牙周袋内时，该处的菌斑控制和牙石的清除十分困难，使病变加速或加重发展。
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考题
关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙是松动牙
考题
患者，男，60岁。诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查见牙体无明显病变，颊侧牙周袋深6mm，牙龈退缩可见根分叉区完全开放，探针能水平通过分叉区，X线片显示根分叉区完全开放。按Glickman根分叉病变分类法，属于A、Ⅰ类根分叉病变B、Ⅱ类根分叉病变C、Ⅲ类根分叉病变D、Ⅳ类根分叉病变E、正常
考题
患者，男，40岁，右下后牙咬合无力半年，冷热刺激酸痛不适，无自发痛。若临床检查：见右下颌6牙周袋4mm，并可探及根分叉区。X线片检查未见牙槽骨吸收。最可能的诊断是A、根尖周炎B、Ⅰ度根分叉病变C、Ⅱ度根分叉病变D、Ⅲ度根分叉病变E、Ⅳ度根分叉病变若临床检查见右下颌6松动(-)，叩痛(+)，牙周袋垂直向深5毫米，水平向深为3mm。X线检查根分叉区骨密度降低。最可能的诊断为A、根尖周炎B、Ⅰ度根分叉病变C、Ⅱ度根分叉病变D、Ⅲ度根分叉病变E、Ⅳ度根分叉病变若检查：牙周萎缩Ⅱ度，根分叉暴露，松动(-)，叩(-)，冷(++)，最佳诊断为A、牙髓炎B、Ⅰ度根分叉病变C、Ⅱ度根分叉病变D、Ⅲ度根分叉病变E、Ⅳ度根分叉病变
考题
根据Glickman的分类,临床检查发现探针能够水平通过根分叉区,但根分叉仍被牙龈覆盖而不可见,那么其根分叉病变应为()
A.ClassIB.ClassIIC.ClassIIID.ClassⅣE.不存在根分叉病变
考题
男，60岁。主诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查：牙体无明显病变，颊侧牙周袋深6mm，牙龈退缩可见根分叉区完全开放，探针能水平通过分叉区，X线片示：根分叉区完全开放。按Glickman根分叉病变分度法，此根分叉病变属于（）。A、Ⅰ度B、Ⅱ度C、Ⅲ度D、Ⅳ度E、正常
考题
男性，60岁，主诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查：左下6牙体无明显病变，颊侧牙周袋深6m，牙龈退缩可见根分叉区完全开放，探针能水平通过分叉区，X线片示：根分叉区完全开放。按Clickman根分叉病变分度法，此根分叉病变属于（）A、Ⅰ度B、Ⅱ度C、Ⅲ度D、Ⅳ度E、正常
考题
单选题根据Glickman的分类，临床检查发现探针能够水平通过根分叉区，但根分叉仍被牙龈覆盖而不可见，那么其根分叉病变应为（）A
ClassⅠB
ClassⅡC
ClassⅢD
ClassⅣE
不存在根分叉病变
考题
单选题关于根分叉病变的描述不正确的是（）A
可用普通的弯探针探查B
检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C
检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D
X线片的表现常比实际病变轻E
发生根分叉病变的患牙是松动牙
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