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内层无釉柱釉质的成因能是

A.成釉细胞尚未形成
B. Tomes processes退变所致
C.成釉细胞分泌障碍
D.晶体长轴的改变
E. Tomes processes尚未形成

参考答案

参考解析
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更多 “内层无釉柱釉质的成因能是 A.成釉细胞尚未形成 B. Tomes processes退变所致 C.成釉细胞分泌障碍 D.晶体长轴的改变 E. Tomes processes尚未形成 ” 相关考题
考题 与釉柱排列相关的结构是( )。A.釉板B.生长线C.横纹D.无釉柱釉质E.釉丛
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考题 无釉柱的釉质存在于A.近釉牙本质界的釉质中B.牙釉质的表面C.牙本质的最外层D.牙本质的最内层E.近釉牙本质界和牙表面的釉质中
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考题 无釉柱的釉质存在于A.牙釉质的最内层B.牙釉质的表面C.牙本质的最外层D.牙本质的最内层E.近釉牙本质界和牙表面的釉质中
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考题 成釉细胞成釉质细胞突（Tomes突）尚未形成时分泌的是（ ）A、施雷格线B、釉柱体部C、无釉柱釉质D、釉质牙本质界E、釉板
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考题 釉牙本质界最先形成的釉质，看不到釉柱的结构为（ ）A、无釉柱釉质B、釉板C、釉索D、釉龛E、釉丛
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考题 釉质的基本结构是A．无釉柱釉质B．釉基质C．釉柱D．釉丛E．釉板
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考题 增强釉质对咀嚼的抵抗力，而不容易被劈裂的结构是A、釉柱B、釉丛C、釉质生长线D、绞釉E、无釉柱釉质
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考题 无釉柱釉质位于A.近托姆斯突处B.釉质表层30umC.近釉质生长线处D.釉质最内层和表层30umE.釉质钙化程度较低处
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考题 无釉柱釉质出现于A．近托姆斯突处B．釉质表层30μmC．近釉质生长线处D．釉质最内层和表层30μmE．釉质钙化程度较低处
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考题 有关釉柱的描述不包括A、釉柱的排列方式可增强釉质的抗剪切强度B、手术时若需劈裂釉质，施力方向必须尽量与釉柱的排列方向一致C、根据现代观点，龋齿备洞时，可保留悬空的牙釉质D、点隙裂沟封闭时，釉质表面酸蚀是重要步骤E、对无釉柱釉质进行酸蚀时，须适当延长处理时间
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考题 成熟釉质的基本结构是A．釉柱釉质和无釉柱釉质B．釉柱、釉丛和釉梭等C．釉柱和柱间质D．釉柱和釉护膜E．釉柱
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考题 无釉柱釉质出现于A．近托姆斯突处B．釉质表层30微米C．近釉质生长线处D．釉质最内层和表层30微米E．釉质钙化程度较低处
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考题 内层无釉柱釉质的成因可能是 A.成釉细胞尚未形成 B. Tomes processes退变所致 C.成釉细胞分泌障碍 D.晶体长轴的改变 E. Tomes processes尚未形成
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考题 关于釉柱说法正确的是A.无釉柱釉质位于釉柱之间 B.釉柱鞘是釉质表面的环形清晰的周界 C.釉柱中的晶体与釉柱长轴平行 D.釉柱是釉质的基本结构 E.以上说法都正确
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考题 无釉柱的釉质存在于（）A、近釉牙本质界的釉质中B、牙釉质的表面C、牙本质的最外层D、牙本质的最内层E、近釉牙本质界和牙表面的釉质中
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考题 与釉柱排列相关的结构是（）A、釉板B、生长线C、横纹D、无釉柱釉质E、釉丛
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考题 单选题无釉柱釉质存在于（　　）。A 釉柱之间B 釉质深层C 施雷格板D 釉质最内层30μm和釉质表层E 釉质最内层，多数乳牙和恒牙表面30μm
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考题 单选题成釉细胞成釉质细胞突（Tomes突）尚未形成时分泌的是（）A 施雷格线B 釉柱体部C 无釉柱釉质D 釉质牙本质界E 釉板
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考题 单选题增强釉质对咀嚼的抵抗力，而不容易被劈裂的结构是（）A 釉柱B 釉丛C 釉质生长线D 绞釉E 无釉柱釉质
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考题 单选题釉质的基本结构是（　　）。A 绞釉B 直釉C 釉柱D 扁六棱柱形晶体E 无釉柱釉质
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考题 单选题与釉柱排列相关的结构是（）A 釉板B 生长线C 横纹D 无釉柱釉质E 釉丛
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考题 单选题无釉柱釉质出现于（　　）。A 釉质最内层和表层30μmB 近托姆斯突处C 近釉质生长线处D 釉质表层30μmE 釉质钙化程度较低处
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考题 单选题无釉柱的釉质存在于（）A 近釉牙本质界的釉质中B 牙釉质的表面C 牙本质的最外层D 牙本质的最内层E 近釉牙本质界和牙表面的釉质中
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