造成卷折伪影主要是因为 A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长

题目内容（请给出正确答案）

造成卷折伪影主要是因为

A、视场的范围超出被检物体

B、被检物体超出视场的范围

C、TR过大

D、TE过大

E、扫描时间过长

参考答案

考题造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长

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考题关于卷褶伪影的说法，正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上

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考题主要出现在频率编码方向的图像伪影是()。A、运动伪影B、磁敏感伪影C、截断伪影D、卷褶伪影E、化学位移伪影

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考题蒙片与造影片配准不良，会产生A、雪花噪声B、运动性伪影C、卷折伪影D、容积效应E、金属伪影

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考题不属于磁共振伪影的是 A、化学位移伪影B、运动伪影C、卷褶伪影D、截断伪影E、放射状伪影

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考题造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。

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考题 MRI设备伪影主要有A.化学位移伪影B.卷褶伪影C.截断伪影D.部分容积效应E.层间干忧

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考题 MRl设备伪影主要有A.化学位移伪影B.卷褶伪影C.截断伪影D.部分容积效应E.层间干忧

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考题蒙片与造影片配准不良，会产生A.金属伪影 B.容积效应 C.卷折伪影 D.雪花噪声 E.运动性伪影

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