造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长

题目内容（请给出正确答案）

造成卷褶伪影主要是因为

A.视场的范围超出被检物体

B.被检物体超出视场的范围

C.TR过大

D.TE过大

E.扫描时间过长

参考答案

考题关于卷褶伪影的说法，正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上

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考题造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。

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考题在下列有关MRI卷褶伪影的表述中，错误的是：()。A、受检物体尺寸大于FOV的大小，FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧B、卷褶伪影通常出现在相位编码方向上C、卷褶伪影通常出现在频率编码方向上D、增大FOV可有效避免卷褶伪影E、在相位编码上过度采样能避免褶伪影

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考题避免卷褶伪影的对策有：()。A.增大FOV，使之大于受检部位B.切换相位频率，把层面中较短处设置为频率编码C.缩小FOV，使之等于受检部位D.切换频率编码，使之超出FOV的范围E.增加图像的空间分辨率

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考题有关磁共振成像中卷褶伪影的产生原因，正确的是()。A.检查部位超出扫描野B.检查部位小于扫描野C.TR时间太长D.TE时间太长E.TR时间太短

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考题造成卷折伪影主要是因为 A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长

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考题卷褶伪影产生的主要是原因是 ( ) A、被检查的解剖部位超出了视场范围B、TR过大C、视场的范围超出被检查的解剖部位D、TE过大E、扫描时间过长

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考题 5、光学显微镜的线视场是指被观察物体的最大尺寸，它表征了显微镜的观察范围，由目镜物方焦平面上的大小决定。

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考题 1、关于间接检眼镜，下列说法正确的是A．放大倍率约为5-7倍B．被检眼为远视眼时，视场大于被检眼为近视眼时C．放大倍率与检眼透镜屈光力、检查距离和被检眼屈光不正度数有关D．视网膜成正实像

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