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探头屏蔽性能测试时，每一个测算位置的计数都不应该超过本底标准差的

A、3倍

B、5倍

C、10倍

D、20倍

E、100倍

参考答案

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考题 探伤仪水平线性指标是( )。A、探伤仪性能指标B、探头性能指标C、探伤仪和探头综合性能指标D、探伤仪电压的测试标准
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考题 在本底计数不可忽略的条件下，净计数率是样品计数率与本底计数A.之和B.之差C.之商D.之积E.之差的2倍
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考题 下列有关探头屏蔽性能的描述，错误的是A、描述探头对视野之外的源的屏蔽能力B、对患者本身FOV之外放射性的屏蔽：用与探头平面的垂直距离为20cm点源，在距探头FOV边缘前后10cm、20cm、30cm的最大屏蔽计数与在 FOV中心处计数率的百分比表示C、对周围环境放射性的屏蔽：将点源置于距探头中心1m，距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽性能D、屏蔽泄漏一最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100%E、探头屏蔽性能反映了患者本身FOV 之外放射性和周围环境放射性这两种影响的程度
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考题 用于测试SPECT计数率特征的源初始放射性活度必须A、保证让探测器小于最大计数率B、保证让探测器达到最大计数率C、保证让探测器达到并超出最大计数率D、超出本底计数率100倍以上E、超出本底计数率1000倍以上
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考题 SPECT的性能测试不包括 A、均匀性校正B、旋转中心校正C、断层均匀性测试D、图像处理软件测试E、多探头的匹配
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考题 在本底计数不可忽略的条件下，净计数率是样品计数率与本底计数A．之和B．之差C．之商D．之积E．之差的2倍
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考题 低水平放射性测量时为把简化优质因子提高100倍,本底计数率应降到多少(设其他参数不变)A.1／10S 低水平放射性测量时为把简化优质因子提高100倍，本底计数率应降到多少(设其他参数不变)A.1／10B.1／50C.1／200D.1／30E.1／100
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考题 对10000只灯泡进行耐用性能测试，根据以往资料，耐用时间标准差为51.91小时，若采用重复抽样方法，概率保证68.27%，平均耐用时数的误差范围不超过9小时。在这种条件下应抽取34只灯泡进行耐用性能测试。A．正确B．错误
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