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填空题
由于缺陷一般为立体状,为了使照相机记录缺陷的偏差降至最低,照像时必须使缺陷尽量落在()上

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考题 要防止发生脆性破坏,就应保证材料具有较好的( ),尽量使承压部件不存在( )。A.塑性、裂纹B.韧性、缺陷C.弹性、缺陷D.脆性、缺陷

考题 由于告知上的原因产生的不合理危险为告知缺陷,也称( )。A.设计缺陷B.说明缺陷C.指示缺陷D.制造缺陷E.维护缺陷

考题 ( )类缺陷为紧急缺陷,使设备不能继续运行,必须立即处理。A.Ⅰ类 B.Ⅱ类 C.Ⅲ类

考题 在利用超声波进行缺陷检测时,尽量使混凝土处于自然干燥状态,缺陷中不应填充水分。( )(2014真题)

考题 在利用超声波进行缺陷检测时,尽量使混凝土处于自然干燥状态,缺陷中不应填充水分。

考题 磁粉探伤时应尽量使磁场方向平行于缺陷延伸方向

考题 磁粉探伤,应尽量使磁化电流方向垂直于缺陷方向。

考题 要防止发生脆性破坏,就应保证材料具有较好的( ),尽量使承压部件不存在( )。A、塑性、裂纹B、韧性、缺陷C、弹性、缺陷D、脆性、缺陷

考题 一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探头的型式,使声束轴线尽量与缺陷平行。

考题 由于缺陷一般为立体状,为了使照相机记录缺陷的偏差降至最低,照像时必须使缺陷尽量落在()上

考题 对工件表面预处理一般不采用喷丸处理是因为可能会()。A、把工件表面开口缺陷封堵B、把油污封在缺陷内C、使缺陷发生扩展D、使工件表面产生缺陷

考题 磁粉探伤时应尽量使磁化电流方向()于缺陷方向,或尽量使磁场方向()于缺陷方向,这样缺陷处才易于堆积磁粉而显示缺陷的存在

考题 采用照像记录被检物表面缺陷时,应注意在被检物上不妨碍察看缺陷的位置安放()

考题 探伤时应量使磁化电流方向()于缺陷方向,或尽量使磁场方向()于缺陷方向,这样缺陷处才易于堆积磁粉而显示缺陷的存在

考题 下列缺陷中,由于清洗不当最容易使下列哪些缺陷漏检()。A、锻造折叠B、深的麻点C、浅而宽的缺陷D、清洗技术对缺陷的探测无影响

考题 磁粉探伤时应尽量使磁场方向垂直于缺陷延伸方向

考题 如下说法哪个是正确的()A、形成点缺陷所引起的熵的变化使晶体能量增加B、晶体总是倾向于降低点缺陷的浓度C、当点缺陷浓度达到平衡值时,晶体自由能最低

考题 单选题下列缺陷中,由于清洗不当最容易使下列哪些缺陷漏检()。A 锻造折叠B 深的麻点C 浅而宽的缺陷D 清洗技术对缺陷的探测无影响

考题 填空题采用照像记录被检物表面缺陷时,应注意在被检物上不妨碍察看缺陷的位置安放()

考题 单选题对工件表面预处理一般不采用喷丸处理是因为可能会()。A 把工件表面开口缺陷封堵B 把油污封在缺陷内C 使缺陷发生扩展D 使工件表面产生缺陷

考题 判断题磁粉探伤时应尽量使磁场方向平行于缺陷延伸方向A 对B 错

考题 填空题由于缺陷一般为立体状,为了使照相机记录缺陷的偏差降至最低,照像时必须使缺陷尽量落在()上

考题 填空题探伤时应量使磁化电流方向()于缺陷方向,或尽量使磁场方向()于缺陷方向,这样缺陷处才易于堆积磁粉而显示缺陷的存在

考题 单选题当晶体的温度高于绝对0K时,由于晶体内原子热震动,使一部分能量较大的原子离开平衡位置造成的缺陷称为()A 杂质缺陷B 热缺陷C 点缺陷D 面缺陷

考题 填空题磁粉探伤时应尽量使磁化电流方向()于缺陷方向,或尽量使磁场方向()于缺陷方向,这样缺陷处才易于堆积磁粉而显示缺陷的存在

考题 判断题一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探头的型式,使声束轴线尽量与缺陷平行。A 对B 错

考题 判断题在利用超声波进行缺陷检测时,尽量使混凝土处于自然干燥状态,缺陷中不应填充水分。A 对B 错

考题 单选题要防止发生脆性破坏,就应保证材料具有较好的( ),尽量使承压部件不存在( )。A 塑性、裂纹B 韧性、缺陷C 弹性、缺陷D 脆性、缺陷