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垮功能小组环境下,可靠度函数能影响产品可靠性主要通过()

  • A、把可靠性需求整合到产品设计中
  • B、开发可靠性试验
  • C、通过失效分析执行
  • D、监测各种不同产品的失效率

参考答案

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考题 可靠性鉴定试验的目的是( )。A.为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B.为环境应力筛选试验作准备C.为进行可靠性增长试验服务D.对可靠性验收试验进行鉴定

考题 下列关于可靠性试验的表述错误的是( )。A.可靠性试验是实验室的试验B.环境应力筛选试验不能提高产品固有可靠性,但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平C.可靠性增长试验是通过发现故障,分析和纠正故障,以及对纠正措施的有效性进行验证以提高产品可靠性水平的过程D.可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平

考题 关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。 A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障 B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性 C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验 D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验 E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

考题 某企业决定根据市场竞争的需要开发一种新的通信设备。为了保证产品的质量和可靠性,在产品设计开发过程中,该企业认真贯彻GB/T 19001—2008中7.3的要求,开展了一系列的可靠性工作。 在该产品的设计和开发确认中,应开展的与可靠性有关的试验有( )。 A.环境应力筛选试验 B.可靠性强化试验 C.可靠性鉴定试验 D.可靠性验收试验

考题 某公司在开发一种新的电子产品时,决定开展系统的可靠性工作,以提高产品的固有可靠性,公司成立以可靠性工程师为组长的项目可靠性小组,小组经过调查研究拟定了项目可靠性工作计划,请对涉及计划的下述内容进行分析和判断,回答相应的问题。 可开展的可靠性试验包括( )。 A.产品功能试验 B.环境应力筛选试验 C.可靠性增长试验 D.可靠性鉴定试验

考题 为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致,用具有代表性的产品在规定条件下所作的试验称为( )试验。 A.环境应力筛选 B.可靠性增长 C.可靠性鉴定 D.可靠性测定

考题 下列关于可靠性试验的说法,正确的有( )。 A.可靠性试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段,目的是使产品可靠性增长 B.环境应力筛选试验不但可以提高产品的固有可靠性,还可以提高产品的可靠性水平 C.可靠性增长试验本身并不能提高产品的可靠性,只有采取了有效的纠正措施产品的可靠性才能真正提高 D.可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平 E.可靠性验收试验的目的是对产品合格与否做出判定

考题 下列关于可靠性增长试验的说法正确的是( )。 A.可靠性增长试验是一个在规定的环境应力下,为暴露产品薄弱环节而进行的试验 B.可靠性增长试验是通过发现故障、分析和纠正故障以及对纠正措施的有效性进行验证以提高产品可靠性水平的过程 C.可靠性增长试验一般称为试验-改进-分析 D.顾名思义,可靠性增长试验本身就能提高产品的可靠性

考题 某公司开发一种新的电子产品时,决定开展系统的可靠性工作,以提高产品的固有可靠性。公司成立以可靠性工程师为组长的项目可靠性小组,小组经过调查研究拟定了项目可靠性工作计划,请对涉及计划的下述内容进行分析和判断,回答相应的问题。 可选用的可靠性设计分析方法有( )。 A.建立可靠性模型 B.产品功能分配 C.产品可靠性分配 D.故障模式影响分析

考题 某企业决定根据市场竞争的需要开发一种新的通信设备。为了保证产品的质量和可靠性,在产品设计开发过程中,该企业认真贯彻GB/T 19001—2008中7.3的要求,开展了一系列的可靠性工作。 在该产品的设计和开发验证中,应开展的与可靠性有关的试验有( )。 A.可靠性增长试验 B.可靠性验收试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性加速试验

考题 产品在规定条件下和规定时间内完成规定功能的概率称为()A、可靠性B、可靠度C、有效度D、失效率

考题 关于可靠性增长试验条件的错误说法是()。A、试验前不必制定可靠性增长试验大纲,不用试验前准备工作评审。B、剖面一般应与该产品的可靠性鉴定试验剖面一致。C、同一批产品通过性能试验与环境试验。D、受试产品应经过环境应力筛选。

考题 关于可靠性预计下列说法正确的是()。A、可以预计产品设计能否达到可靠性指标要求B、预计结果能为设计方案选择提供依据C、常利用可靠性分配值进行可靠性预计D、主要用于产品可靠性的定性分析

考题 可靠性分析可用于(),推测软件产品成熟度、确定主要产品的耗损特性以有助于改进产品的设计,或策划所要求的适宜的服务维修计划和工作等场合。 A、验证零件或产品能满足规定的可靠性要求B、新产品引进的试验数据的可靠性分析C、对现货产品的可靠性分析D、对抽样统计结果分析

考题 反映产品可靠性的指标不包括()。A、可靠度B、失效率C、平均故障间隔时间D、故障修复时间

考题 ()就是产品丧失规定的功能,即产品不再能够达到设计文本中的规定的产品功能。A、失效B、失效性C、可靠D、可靠性

考题 描述产品在规定的条件下和规定的时间内,产品功能失效的概率的可靠性特征量是()A、可靠度B、累积失效概率C、失效概率密度D、失效率

考题 半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验

考题 可以用于表示可靠性随时间变化的规律的曲线(函数)有()A、可靠度函数B、产品寿命曲线C、平均失效间隔时间D、累积失效函数E、失效概率密度

考题 在可靠性的特征量中,()表示产品在规定的条件下,规定的时间内,完成规定功能的概率。A、可靠度B、累积失效概率C、失效概率密度D、失效率

考题 是指可维修的产品在规定条件下使用时,在某时刻具有或维持其功能的概率称为()A、可靠性B、可靠度C、有效度D、失效率

考题 单选题可靠性鉴定试验的目的是(  )。A 为了验证开发的产品可靠性是否与规定的可靠性要求一致B 为环境应力筛选试验作准备C 为进行可靠性增长试验服务D 对可靠性验收试验进行鉴定

考题 多选题可选用的可靠性设计分析方法有(  )。A建立可靠性模型B产品功能分配C产品可靠性分配D故障模式影响分析

考题 单选题在可靠性的特征量中,()表示产品在规定的条件下,规定的时间内,完成规定功能的概率。A 可靠度B 累积失效概率C 失效概率密度D 失效率

考题 单选题描述产品在规定的条件下和规定的时间内,产品功能失效的概率的可靠性特征量是()A 可靠度B 累积失效概率C 失效概率密度D 失效率

考题 单选题半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收实验D 环境应力筛选试验

考题 多选题可开展的可靠性试验包括(  )。A产品功能试验B环境应力筛选试验C可靠性增长试验D可靠性鉴定试验