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检测绝缘厚度和外形尺寸时，应选用读数显微镜或放大倍数至少10倍的投影仪。

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考题 物镜标示的主要性能指标有A、放大倍数、数值孔径、镜筒长度和所要求的盖玻片厚度B、放大倍数、镜筒长度C、放大倍数、数值孔径和所要求的盖玻片厚度D、数值孔径、镜筒长度E、数值孔径
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考题 显微镜的物镜表面的数值“0.17”代表A、数值孔径B、放大倍数C、镜筒长度D、所要求盖玻片厚度E、折射率
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考题 显微镜物镜表面数值“0.70”代表A、数值孔径B、放大倍数C、镜筒长度D、所要求盖玻片厚度E、折射率
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考题 显微镜物镜表面数值"0.70"代表A、数值孔径B、放大倍数C、光强度D、载玻片厚度E、分辨率
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考题 目测玻璃珠在容器中的状态,同时把少许玻璃珠样品妨碍载玻片上,用放大倍数不小于()的显微镜或投影仪进行观察检查。 A、5B、10C、15D、20
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考题 电线电缆的绝缘或护套的厚度,在促裁检验时应采用()。 A.外径测量法;B.直接测量法;C.纸法;D.显微镜读数法。
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考题 显微镜物镜表面的数值"40"代表A、数值孔径B、放大倍数C、载玻片厚度D、盖玻片厚度E、分辨率
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考题 显微镜物镜表面的数值“40”代表A、数值孔径B、放大倍数C、镜筒长度D、所要求盖玻片厚度E、折射率
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考题 失效分析中常常注重宏观缺陷观察，以下缺陷不属于宏观缺陷的有（）A、肉眼可见或使用不超过10X放大倍数的放大镜下观察到的缺陷B、10X以上放大倍数的显微镜下观察到的缺陷C、用扫描电子显微镜观察到的缺陷D、250X放大倍数的光学金相显微镜下观察到的缺陷
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考题 显微镜目镜放大倍数是10，物镜的放大倍数是40，则观察到物体的实际放大倍数是（）倍。
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考题 金相显微镜的放大倍数为100倍，若目镜放大倍数5倍，那么物镜放大倍数为（）倍。A、500B、20C、5
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考题 若规定的绝缘厚度为（）mm及以上时，读数应测量到小数点后（）位，其规定的绝缘厚度（）mm时，则读数应测量到小数后（）位，第三位为估计数。
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考题 金相显微镜放大倍数就是的放大倍数（）.A、物镜的放大倍数B、目镜的放大倍数C、物镜、目镜的放大倍数的乘积
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考题 电线电缆的绝缘或护套的厚度，在促裁检验时应采用（）。A、外径测量法；B、直接测量法；C、纸法；D、显微镜读数法。
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考题 用显微镜观察细菌、酵母时，选用的目镜和物镜的放大倍数越小越好。
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考题 用显微镜观察细菌时，选用的目镜和物镜的放大倍数越大越好。
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考题 显微镜对物体的放大倍数是目镜放大倍数和物镜放大倍数的和。
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考题 显微镜的放大倍数最好在（）之间交换。
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考题 外形尺寸和绝缘厚度测量的测量装置要求为读数显微镜或放大倍数至少（）倍的投影仪，两种装置读数均至（）mm。当测量绝缘厚度小于（）mm时，则小数点后第三位数为估计读数。
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考题 测定显微镜系统的放大倍数必须知道（）A、目镜和物镜的放大倍数B、聚光镜和光阑大小C、数值孔径和光波长D、显微镜工作距离
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考题 显微镜目镜和物镜的长短与放大倍数有什么关系？
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考题 显微镜对焦时，应注意物镜与（）之间的工作距离因物镜的放大倍数不同，物镜的放大倍数大，工作距离短，调节时应特别小心，应眼睛从（）看，镜头下降到工作距离以内，然后提升镜筒直至能看清楚物象
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考题 单选题测定显微镜系统的放大倍数必须知道（）A 目镜和物镜的放大倍数B 聚光镜和光阑大小C 数值孔径和光波长D 显微镜工作距离
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考题 填空题显微镜目镜放大倍数是10，物镜的放大倍数是40，则观察到物体的实际放大倍数是（）倍。
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考题 填空题显微镜对焦时，应注意物镜与（）之间的工作距离因物镜的放大倍数不同，物镜的放大倍数大，工作距离短，调节时应特别小心，应眼睛从（）看，镜头下降到工作距离以内，然后提升镜筒直至能看清楚物象
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考题 单选题光学显微镜有一个放大倍数为40的物镜和放大倍数为10的目镜，成像的总放大倍数是（）A 40×B 50×C 400×D 450×E 1000×
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考题 单选题金属的宏观缺陷是指（）。A 肉眼可见或使用不超过10X放大倍数的放大镜下观察到的缺陷B 10X以上放大倍数的显微镜下观察到的缺陷C 用扫描电子显微镜观察到的缺陷D 250X放大倍数的光学金相显微镜下观察到的缺陷
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