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测量系统的()通常被称为评价人的变差。


参考答案

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考题 ( )是指由一位评价人,多次使用一种测量仪器,测量同一零件的同一特性时,获得的测量值变差或在固定和规定测量条件下连续(短期)试验的变差。A.重复性 B.再现性 C.精密度 D.准确度

考题 在测量系统评价中,再现性是由()的同一特性时测量平均值的变差A、不同的评价人B、同一个评价人C、采用相同的测量仪器D、测量同一零件

考题 对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

考题 测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下,测量系统中的变差只能由()造成,而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性,并且可以通过()法最佳地进行评价。

考题 测量分析可将各种来源的变差量化,如来自()。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。A、测量人员的变差B、测量结果的变差C、测量仪器自身的变差D、测量过程的变差

考题 重复性是由同一个评价人,采用()测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。

考题 测量系统变差的类型有哪些?

考题 测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响,主要强调()和()的变差对测量值的影响。

考题 测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

考题 以下哪种原因可能导致测量结果的变差() 。A、零件的变差B、测量人内部变差C、测量仪器的变差D、测量环境导致的变差

考题 在测量系统分析中,评价一个人使用一件测量设备,对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差,称为()。A、重复性B、偏倚C、稳定性D、线性E、再现性

考题 测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

考题 以下公式错误的是()。A、 测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B、 TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C、 GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D、 ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

考题 再现性是由()评价人,用同一测量仪器测量()零件的同一特性所获得的平均值的变差。

考题 重复性是由()个评价人,采用同一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。A、1B、2C、3D、4

考题 重复性是由()评价人,采用同一测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。A、一个B、两个C、至少三个

考题 填空题测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响,主要强调()和()的变差对测量值的影响。

考题 填空题测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

考题 单选题在测量系统分析中,评价一个人使用一件测量设备,对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差,称为()。A 重复性B 偏倚C 稳定性D 线性E 再现性

考题 判断题再现性是由一个评价人,采用一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。A 对B 错

考题 填空题重复性是由同一个评价人,采用()测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。

考题 多选题以下哪种原因可能导致测量结果的变差()。A零件的变差B测量人内部变差C测量仪器的变差D测量环境导致的变差

考题 填空题测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下,测量系统中的变差只能由()造成,而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性,并且可以通过()法最佳地进行评价。

考题 单选题以下公式错误的是()。A  测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B  TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C  GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D  ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

考题 填空题再现性是由()评价人,用同一测量仪器测量()零件的同一特性所获得的平均值的变差。

考题 填空题测量系统的()通常被称为评价人的变差。

考题 问答题测量系统变差的类型有哪些?