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GIS本体超高频局部放电检测周期:新设备投运、A 类检修后()周内完成。


参考答案

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考题 超高频局部放电测试主要适用于电缆GIS终端的检测。() 此题为判断题(对,错)。

考题 新投运和解体检修后的开关柜的暂态地电压局部放电检测,应在投运后()个月内进行一次运行电压下的检测,记录开关柜每一面的测试数据作为初始数据,以后测试中作为参考。1$; $2$; $3月$; $6

考题 开关柜红外检测周期:新安装及A、B类检修重新投运后()周内。(A)1 (B)2 (C)3 (D)4

考题 新投运和解体检修后的设备,应在投运后( )进行一次运行电压下的暂态地电压局部放电检测,记录开关柜每一面的测试数据作为初始数据,以后测试中作为参考。 1周内$;$1个月内$;$3个月内$;$半年内

考题 新投运和解体检修后的设备,应在投运后( )内进行一次运行电压下的暂态地电压局部放电检测,记录开关柜每一面的测试数据作为初始数据,以后测试中作为参考。 4个月$; $1个月$; $2个月$; $3个月

考题 新投运和解体检修后的设备,应在投运后3个月内进行一次运行电压下的检测。

考题 开关柜新投运和解体检修后的设备,应在投运后(____)内进行一次运行电压下的暂态地电压局部放电检测。1周$; $10天$; $15天$; $1月

考题 并联电容器精确测温周期()后1周内(应超过24小时)。新设备投运$;$经过A类检修重新投运$;$经过B类检修重新投运$;$以上均是

考题 中性点电容隔直装置红外检测精确测温周期:新投运设备应在投运后一周内但应超过()小时3$;$6$;$12$;$24

考题 中性点电容隔直装置红外检测精确测温周期:新投运设备应在投运后一周内但应超过( )小时(A)3 (B)6 (C)12 (D)24

考题 对于暂态地电压局部放电检测周期说法正确的是()。(A)暂态地电压局部放电检测至少一年一次,结合迎峰度夏(冬)开展 (B)新投运和解体检修后的设备,应在投运后3个月内进行一次运行电压下的检测,记录开关柜每一面的测试数据作为初始数据,以后测试中作为参考 (C)对存在异常的开关柜设备,在该异常不能完全判定时,可根据开关柜设备的运行工况缩短检测周期 (D)新投运和解体检修后的设备,应在投运后1个月内进行一次运行电压下的检测,记录开关柜每一面的测试数据作为初始数据,以后测试中作为参考。

考题 并联电容器精确测温周期( )后1周内(应超过24小时)。(A)新设备投运 (B)经过A类检修重新投运 (C)经过B类检修重新投运 (D)以上均是

考题 端子箱及检修电源箱的精确测温周期为()。A、新设备投运后1周内(不应超过24小时)B、每半年至少1次C、新设备投运后1周内D、新设备投运后1周内(但应超过24小时)

考题 根据专业巡视周期要求,新投运的设备、对核心部件或主体进行解体检修后重新投运的设备,宜加强巡视。

考题 GIS局部放电检测方法包括()。A、超声波法B、超高频法C、化学检测法D、脉冲电流法

考题 在运行状态下对GIS进行超声波及特高频局部放电检测属于GIS的()检修。A、A类;B、B类;C、C类;D、D类。

考题 GIS特高频局部放电检测周期是()。A、半年至一年;B、投运后;C、大修后;D、必要时。

考题 GIS超声波局部放电检测周期是()。A、半年至一年;B、投运后;C、大修后;D、必要时。

考题 GIS局部放电检测主要有()方法。A、化学检测法B、超声波检测法C、超高频检测法D、脉冲电流法

考题 ()的组合电器,重新投运后1周内进行紫外检测。A、新安装B、改造后C、A、B类检修重新投运D、B、C类检修重新投运

考题 高压开关柜超声波局部放电检测周期说法正确的是()。A、1年B、新安装投运1个月内C、A、B类检修重新投运1个月内D、必要时

考题 断路器红外检测要求,新投运断路器精确测温周期为:新投运后1周内(但应超过()小时)。

考题 组合电器在()及必要时进行紫外检测。A、新安装B、改造后C、B、C类检修重新投运2周内D、A、B类检修重新投运后2周内

考题 开关柜暂态地电压局部放电检测,下列正确的是()。A、暂态地电压局部放电检测至少一年一次,结合迎峰度夏(冬)开展B、新投运和解体检修后的设备,应在投运后1个月内进行一次运行电压下的检测C、应在设备投入运行30分钟后,方可进行带电测试D、若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值小于20dBmV,应查明原因

考题 新设备投运、大修后()周内完成变压器高频局部放电检测。A、1B、2C、3D、4

考题 下列不属于GIS设备D类检修的是()。A、超高频局部放电测试B、红外热像检测C、回路电阻测试D、超声局部放电测试

考题 判断GIS超高频局部放电检测正常的标准为与标准图谱比较()。A、无典型放电图谱B、在同等条件下同类设备检测的图谱有明显区别C、具有典型局部放电的检测图谱D、低于背景噪声