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单选题
筒形工件，当选用内源透照法时，若要获得对横向裂纹的最高检出率，射线源应放置在（）
A

内圆中心处

B

小于内半径处

C

大于内半径处

D

以上都不是

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考题 采用双壁双影透照管径小于90mm的环焊缝时，像质计应放置在射线源一侧焊缝的（）表面
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考题 DL/T821-2002规定，采用双壁单投影法透照时，射线源至管子外表面的距离，当小于或等于15mm时，至少分（）段透照，即每段对应的中心角应小于或等于（）；当大于15mm时，至少分（）段透照，即每段对应的中心角小于或等于（）。
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考题 DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）
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考题 对环焊缝作源在外的单壁透照时，确定透照次数与（）相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
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考题 控制透照厚度比K值的主要目的是（）A、提高横向裂纹检出率；B、减小几何不清晰度；C、增大厚度宽容度；D、提高底片对比度。
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考题 筒形工件，当选用内源透照法时，若要获得对横向裂纹的最高检出率，射线源应放置在（）A、内圆中心处B、小于内半径处C、大于内半径处D、以上都不是
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考题 触头放置在焊缝两侧，两触头连线与焊缝垂直，此时可检出焊接接头的（）。A、表面纵向裂纹B、表面横向裂纹C、近表面裂纹D、未焊透
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考题 厚工件中的紧闭裂纹，即使透照方向适当，也（）被检出。
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考题 按JISZ3104，3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（）张片子。
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考题 当采用射线探伤方法时，应优先采用X射线源进行透照检测。
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考题 厚工件的紧闭裂纹，即使透照方向适当，也可能不被检出。
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考题 欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。
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考题 应用几何原理的原则是（）A、选取尺寸尽量大的射线源B、射线源到被透照工件的距离尽可能小C、胶片离被透照工件尽可能远D、中心射线尽可能垂直于胶片平面
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考题 用相同条件透照同一容器的环焊缝，采用外照法（）比内照法（）对横向裂纹的检出率要（），而对单面焊根部裂纹和未焊透（）的检出率要（）。
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考题 射线源和胶片处于工件两面，透照时的像质计应如何放置？为什么？
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考题 当射线对裂纹的照射角度超过15度时对裂纹的检出率越高。（）
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考题 用相同条件透照同一容器的环焊缝，采用外照法比内照法对横向裂纹的检出率要（）。A、低B、高C、无影响D、以上都不对
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考题 当采用焦距F大于曲率半径R的偏心内透照法检验环焊缝时，搭接标记应放在（）。A、射线源侧B、胶片侧C、两侧均可D、以上都对
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考题 工件用外圆柱面在V形块上接触定位时，当V形块开口向上放置，则工件在水平方向的定位误差为零。
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考题 填空题采用双壁双影透照管径小于90mm的环焊缝时，像质计应放置在射线源一侧焊缝的（）表面
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考题 单选题应用几何原理的原则是（）A 选取尺寸尽量大的射线源B 射线源到被透照工件的距离尽可能小C 胶片离被透照工件尽可能远D 中心射线尽可能垂直于胶片平面
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考题 判断题当采用射线探伤方法时，应优先采用X射线源进行透照检测。A 对B 错
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考题 判断题DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）A 对B 错
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考题 判断题欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。A 对B 错
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考题 单选题控制透照厚度比K值的主要目的是（）A 提高横向裂纹检出率；B 减小几何不清晰度；C 增大厚度宽容度；D 提高底片对比度。
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考题 填空题DL/T821-2002规定，采用双壁单投影法透照时，射线源至管子外表面的距离，当小于或等于15mm时，至少分（）段透照，即每段对应的中心角应小于或等于（）；当大于15mm时，至少分（）段透照，即每段对应的中心角小于或等于（）。
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考题 判断题厚工件的紧闭裂纹，即使透照方向适当，也可能不被检出。A 对B 错
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