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题目内容
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单选题
能将X线直接转换成电子信号的材料是()
A
溴化银
B
腆化铯
C
非晶硒
D
非晶硅
E
氟氯化钡/铕
参考答案
参考解析
解析:
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考题
关于非晶硒平板探测器的叙述,下列错误的是()。A.使用了光电导材料,能将所吸收的光子转换成电荷B.典型材料为非晶硒(a-Se)C.每个薄膜晶体管(TFT)形成一个采集图像的最小单元D.非晶硒层直接将X线转换成电信号E.与非晶硅探测器的工作原理相同
考题
I层采用InGaAs材料的PIN光电二级管能将850nm波长的光信号转换成电信号。
I层采用InGaAs材料的PIN光电二级管能将850nm波长的光信号转换成电信号。此题为判断题(对,错)。
考题
关于CT机的工作原理,描述错误的是A.利用窄束X线穿透被检部位
B.计算机将模拟信号变成数字信号,再重建图像
C.透过被检体的X线被探测器接收直接成像
D.A/D转换是将模拟信号转换成数字信号
E.X线穿透被检部位时,其强度呈负指数关系衰减
考题
与屏-片摄影相比,CT利用X线的成像方式是()A、衰减射线转换成数字信号后成像B、利用衰减射线直接曝光成像C、衰减射线转换成可见光后成像D、利用衰减射线产生的荧光成像E、利用衰减射线转换成电信号成像
考题
关于非晶硒平板探测器的叙述,下列错误的是()A、使用了光电导材料,能将所吸收的光子转换成电荷B、典型材料为非晶硒(a-SE.C、每个薄膜晶体管(TFT)形成一个采集图像的最小单元D、非晶硒层直接将X线转换成电信号E、与非晶硅探测器的工作原理相同
考题
关于CT机的工作原理描述,错误的是( )A、利用窄束X线穿透被检部位B、透过被检体的X线被探测器接收直接成像C、X线穿透被检部位时,其强度呈负指数关系衰减D、计算机将模拟信号变成数字信号,再重建图像E、A/D转换是将模拟信号转换成数字信号
考题
单选题关于探测器说法,不正确的是( )。A
非晶硒平板探测器的非晶硒层直接将X线转换成电信号B
太厚的非晶硒会导致其他伪影的产生C
伪影的程度取决于X线被吸收前在非晶硒内前行的距离D
探测器的设计在X线捕获和电子信号之间不产生折中E
图像持留时间限制了图像的采集速度,这对全自动曝光技术带来了负面效应
考题
单选题关于非晶硒平板探测器的叙述,不正确的是( )。A
直接转换探测器使用了光导电材料,能将所吸收的光子转换成电荷,典型材料为非晶硒B
非晶体硒本身不具有固有空间分辨力C
电流的大小与入射X线光子的数量成正比D
由于电子和空穴是沿着电场线运动的,所以,它们在运动的过程中没有横向电荷散布E
各种数字平板探测器的图像质量可以用DQE来衡量
考题
单选题关于CT机的工作原理,描述错误的是()A
利用窄束X线穿透被检部位B
计算机将模拟信号变成数字信号,再重建图像C
X线穿透被检部位时,其强度呈负指数关系衰减D
透过被检体的X线被探测器接收直接成像E
A/D转换是将模拟信号转换成数字信号
考题
单选题与屏-片摄影相比,CT利用X线的成像方式是()A
衰减射线转换成数字信号后成像B
利用衰减射线直接曝光成像C
衰减射线转换成可见光后成像D
利用衰减射线产生的荧光成像E
利用衰减射线转换成电信号成像
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