考题
在厚焊缝斜探头检测时，宜使用什么方法标定仪器时基线（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、一次波法
考题
焊缝探伤锯齿形扫查时，斜探头可不必垂直焊缝中心线放置在检测面上。
考题
在厚焊缝单探头探伤中，垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能：（）A、用45°斜探头探出B、用直探头探出C、用任何探头探出D、反射讯号很小而导致漏检
考题
焊缝探伤时，斜探头距离—波幅曲线的作用是（）A、调节检测灵敏度B、确定缺陷波幅C、测定缺陷指示长度D、A和B
考题
在中薄板焊缝斜探头探伤时，使用什么方法标定仪器时基线？（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、二次波法
考题
在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、一次波法
考题
在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（）A、提高探头声束指向性B、校准仪器扫描线性C、提高探头前沿长度和K值测定精度D、以上都对
考题
在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线？（）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、二次波法
考题
检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。
考题
计算题：用k2探头探伤板厚为15mm对接焊缝，按水平1：1定位，在示波屏刻度板上水平刻度50mm处发现缺陷回波，求此缺陷位置？
考题
从斜探头入射点到缺陷在探伤面上投影点距离，称为探头焊缝距离。
考题
探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列斜探头
考题
焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A、缺陷定位B、判定缺陷波幅C、判定结构反射波和缺陷波D、判定缺陷性质
考题
探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列双斜探头
考题
选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。A、有利于发现缺陷B、不利于对缺陷定位C、可提高探伤灵敏度D、有利于对缺陷定位
考题
焊缝超声波探伤，主要用（）探伤法。A、纵波斜探头B、纵波直探头C、横波斜探头D、横波直探头
考题
使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A、探伤灵敏度B、扫查密度C、定位精度D、定量精度
考题
单选题在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（）A
水平定位法B
深度定位法C
声程定位法D
一次波法
考题
单选题选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。A
有利于发现缺陷B
不利于对缺陷定位C
可提高探伤灵敏度D
有利于对缺陷定位
考题
单选题使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A
探伤灵敏度B
扫查密度C
定位精度D
定量精度
考题
单选题在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是（）A
提高探头声束指向性B
校准仪器扫描线性C
提高探头前沿长度和K值测定精度D
以上都对
考题
单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适合用的方法是（）A
聚焦探头B
直探头C
斜探头D
串列双斜探头
考题
多选题焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A缺陷定位B判定缺陷波幅C判定结构反射波和缺陷波D判定缺陷性质
考题
单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A
聚焦探头B
直探头C
斜探头D
串列斜探头
考题
单选题探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A
聚焦探头B
直探头C
斜探头D
串列双斜探头
考题
单选题在厚焊缝单探头探伤中，垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能：（）A
用45°斜探头探出B
用直探头探出C
用任何探头探出D
反射讯号很小而导致漏检
考题
判断题从斜探头入射点到缺陷在探伤面上投影点距离，称为探头焊缝距离。A
对B
错
考题
单选题焊缝探伤时，斜探头距离—波幅曲线的作用是（）A
调节检测灵敏度B
确定缺陷波幅C
测定缺陷指示长度D
A和B