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关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，
E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
参考答案
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考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为( )。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到，技术控制状态达到C．状态Ⅲ：统计控制状态达到，技术控制状态未达到D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态E．状态Ⅴ：统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
考题
根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于统计控制状态，下列说法正确的有( )。A．统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B．控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握C．通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99.73%的产品是合格品D．在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济E．统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
过程处于统计控制状态，则（ ）。
A.过程中只有偶然因素，没有异常因素
B.过程中只有异常因素，没有偶然因素
C.过程能力指数未必满足要求
D.应继续判断过程是否达到技术控制状态
E.控制图中的点都集中在中心线附近的C区
考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。
A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态
C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态
D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
在过程控制中，最理想的状态是（ ）。
A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到
B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到
C.统计控制状态与技术控制状态均达到
D.统计控制状态与技术控制状态均未达到
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
多选题根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。A状态Ⅰ，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态B状态Ⅱ，统计控制状态未达到，技术控制状态达到C状态Ⅲ，统计控制状态达到，技术控制状态未达到D状态Ⅳ，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态E状态Ⅴ，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
考题
多选题过程处于统计控制状态，则（ ）。[2008年真题]A过程中只有偶然因素，没有异常因素B过程中只有异常因素，没有偶然因素C过程能力指数未必满足要求D应继续判断过程是否达到技术控制状态E控制图中的点都集中在中心线附近的C区
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。A
状态Ⅰ，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B
状态Ⅱ，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C
状态Ⅲ，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D
状态Ⅳ，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种（）的控制线延长能作为控制用的控制图。A
状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B
状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C
状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D
状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
单选题在过程控制中，最理想的状态是（ ）。A
统计控制状态达到，技术控制状态未达到B
统计控制状态未达到，技术控制状态达到C
统计控制状态与技术控制状态均达到D
统计控制状态与技术控制状态均未达到
考题
多选题关于统计控制状态，下列说法正确的有（ ）。A统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握C通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99.73%的产品是合格品D在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济E统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态
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