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根据上述计算结果，判断过程（ ）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
参考答案
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考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。
A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态
C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态
D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。
A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态
B.状态II，统计控制状态未达到，技术控制状态达到
C.状态III，统计控制状态达到，技术控制状态未达到
D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态
E.状态V，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
下列不属于消防控制室不能远程手动启停风机的故障原因是（ ）。
A.与多线控制盘配套用的切换模块损坏
B.多线控制盘未解锁处于“手动禁止”状态
C.风机控制柜处于“手动”状态
D.风机的控制柜未处于“手动”状态
考题
从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。
A.过程处于统计控制状态
B.具有足够的生产能力
C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
D.过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。
A.需要重新计算控制限
B.该子组中一定有不合格品
C.可判定过程处于统计失控状态
D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设
考题
在过程控制中，最理想的状态是（ ）。
A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到
B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到
C.统计控制状态与技术控制状态均达到
D.统计控制状态与技术控制状态均未达到
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。
A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1
C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态
D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp
E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A、过程处于统计控制状态和技术控制状态B、过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C、过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D、过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种（）的控制线延长能作为控制用的控制图。A、状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B、状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C、状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D、状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A
状态Ⅰ ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B
状态Ⅱ ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C
状态Ⅲ ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D
状态Ⅳ ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
多选题根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。A状态Ⅰ，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态B状态Ⅱ，统计控制状态未达到，技术控制状态达到C状态Ⅲ，统计控制状态达到，技术控制状态未达到D状态Ⅳ，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态E状态Ⅴ，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题在过程控制中，最理想的状态是（ ）。A
统计控制状态达到，技术控制状态未达到B
统计控制状态未达到，技术控制状态达到C
统计控制状态与技术控制状态均达到D
统计控制状态与技术控制状态均未达到
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