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处于统计控制状态的某过程的多个子组均值突然增大,则均值控制图上可能出现的情况有( )。
A.连续多点落在中心线的下侧
B.连续多点落在中心线上侧的B区以外
C.连续多点落在中心线两侧且无一在C区内
D.连续多点落在中心线上侧的C区以外
E.连续多点落在中心线两侧的C区内
参考答案
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考题
经判断过程能力满足要求后,转为控制用控制图监控过程。新收集了一组样本8.1、 7.9、8.3、8.0和8.2,则以下正确的有( )A.均值图上的描点值为8.1B.标准差图上的描点值为0.1C.样本均值在均值图的控制限内D.样本标准差在标准差图的控制限内
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示,正确的有( )。A.过程未处于统计控制状态B.过程的均值有减小的趋势C.过程的标准差有增大的趋势D.过程的不合格品率肯定会减小E.过程偏离分布中心的程度减小
考题
关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
汽车配件公司对产品的某质量特性进行统计过程控制,每隔1小时抽取一个子组,每组包含5件产品,连续抽取了20组。
控制图上显示有连续8点在中心线两侧何无一在C区,造成这种现象的可能原因是( )。
A.过程均值增大 B.过程均值减少
C,工具逐渐磨损 D.数据来自两个不同的总体
考题
汽车配件公司对轴的直径进行统计过程控制,每隔1小时抽取一个子组,每组包含5件产品,连续抽取了20组。
若过程处于统计控制状态,则控制图上出现( )是小概率事件。
A.点子落在控制限外 B.点子在中心线上下随机散布
C.连续9点落在中心线的同一侧 D.连续7点递增
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进
D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态
考题
汽车配件公司对产品的某质量特性进行统计过程控制,每隔1小时抽取一个子组,每组包含5件产品,连续抽取了20组。
若过程处于统计控制状态,则控制图上出现( )是小概率事件。
A.点子落在控制限外
B.点子在中心线上下随机散布
C.连续9点落在屮心线的同一侧
D.连续7点递增
考题
加工一种轴承,其规格为(10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中,正确的是( )。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
均值控制图显示最近有连续9个点落在中心线的同一侧,但均在控制限内,这说明( )。
A.过程失控,过程中心出现系统偏移,应查找原因,及时纠正
B.过程输出呈现趋势性变化,应重新计算控制界限
C.样本点均在控制限内,过程处于统计控制状态
D.过程受控,不会影响Cp和Cpk
考题
关于过程状态的说法,正确的有( )。
A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时,CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
汽车配件公司对轴的直径进行统计过程控制,每隔1小时抽取一个子组,每组包含5件产品,连续抽取了20组。
控制图上显示有连续8点在中心线两侧,但无一在C区,造成这种现象的可能原因是( )。
A.过程均值增大 B.过程均值减少
C.工具逐渐磨损 D.数据来自两个不同的总体
考题
关于所使用的控制用控制图的说法,正确的有()。
A.均值图上的控制上限为公差上限4.1,控制下限为公差下限3. 9
B.均值图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的平均值
C.标准差图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的标准差
D.如果有点子出界,则需重新修订控制限
考题
以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
某过程采用均值—极差控制图进行过程控制,在均值控制图上,发现连续15个点均在控制中线上下一个标准差范围内,出现这种情况的最可能的原因是:()A、过程均值变小了B、过程方差变小了C、过程均值变大了D、过程方差变大了
考题
利用控制图识别生产过程的状态,( )可以认为该过程是按预计的要求进行,即处于统计控制状态(受控状态)。A、没有出现越出控制界限的点子B、没有出现越出控制界限的点子,也未出现点子排列缺陷C、样本点在控制界限内,连续9点落在中心线同一侧(均值控制图)D、样本点在控制界限内,连续15点落在中心线两侧的C区内(均值控制图)
考题
单选题某过程采用均值—极差控制图进行过程控制,在均值控制图上,发现连续15个点均在控制中线上下一个标准差范围内,出现这种情况的最可能的原因是:()A
过程均值变小了B
过程方差变小了C
过程均值变大了D
过程方差变大了
考题
单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A
过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
单选题控制图上显示有连续8点在中心线两侧,但无一在C区,造成这种现象的可能原因是( )。A
过程均值增大B
过程均值减少C
工具逐渐磨损D
数据来自两个不同的总体
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