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有5个不可修复产品进行寿命试验，它们发生失效的时间分别是1000h，1500h，2000h，2200h，2300h，该产品的MTTF观测值是（ ）。
参考答案
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考题
有5个不可修复产品进行寿命试验，它们发生失效的时间分别是1000h、1500h、2000h、2200h、2300h，该产品的MTTF观测值是( )。A．1800hB．1900hC．2000hD．2100h
考题
设有4件不可修复产品寿命试验，失效时间分别为800h, 1200h, 500h, 1500h,则产品的平均失效前时间MTTF为（ ）。
A. 800h B. 1000h C. 700h D. 1500h
考题
在产品的失效时间服从指数分布，f(t)=λ﹣λt,λ＞0时,有( )。
A.R(t)=1－e－λt
B.MTBF=1/λ
C. MTTF=MTBF
D.失效率为λ
E. MTBF=MTTR
考题
设有4件不可修复产品进行寿命试验，失效时间分别为800 h，1 200 h, 500 h, 1 500 h,则产品的平均失效前时间MTTF为（ ）。
A.800 h B.1000 h
C. 700 h D.1500 h
考题
某电子产品的寿命服从指数分布，为估计该产品的MTBF，进行定时截尾寿命试验，即试验进行到规定的时间停止，在对产品的MTBF进行区间估计时，必须用到的量有( )。
A.投入寿命试验的产品数
B.所有投入试验产品的试验时间总和，即累计试验时间
C.正态分布临界值
D. x2的分布临界值
E.发生的故障数
考题
关于寿命试验时间的错误说法是（）。A、在受试产品没有出现故障时，试验的最长工作时间应是规定寿命值的15倍。B、在受试产品没有出现故障时，试验的最长工作时间应是规定寿命值的1.5倍。C、对于寿命鉴定试验要持续到要求的寿命时终止。D、如果试验时间较长，针对较好或较差产品可采用序贯截尾方法来减少试验时间
考题
关于寿命试验故障的错误说法是（）。A、对于可修复产品，凡发生在耗损期内并导致产品翻修的耗损性故障为关联故障。B、对于不可修复的产品，发生在耗损期内的耗损性故障和偶然故障均为关联故障C、如果产品在要求的寿命期内未出现耗损故障，则证明产品达到要求的寿命值。D、对于可修和不可修复的产品，发生在耗损期内的偶然故障均为关联故障。
考题
求下列寄存器组合所寻址的存储单元地址： （1）DS=1000H，DI=2000H （2）SS=2300H，BP=3200H （3）DS=A000H，BX=1000H （4）SS=2900H，SP=3A00H
考题
单选题设对3个不可修复产品进行寿命试验，它们发生失效的时间分别是500 h，1 000 h，1 500 h，产品的MTTF观测值是( )h。A
1 000B
1 500C
4 500D
500
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