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【单选题】测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的（)对准微分筒上零刻线。

A．纵刻线      

B．零位        

C．横刻线     

D．刻线

参考答案和解析
纵刻线
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考题 千分尺调零位方法:用测力装置使量面或量面与标准棒两端面接触,观察微分筒前端面与固定套管零线、微分筒零线与固定套管基线是否重合,如不重合,应通过附带的专用小扳手转动固定套管来进行调整。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。 A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线
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考题 使用千分尺时,如果微分筒的零线与固定套筒的()没有对准,在测量时就会产生系统误差。 A、刻度线B、斜划线C、中线
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考题 检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管端面的距离,是为了控制()。检定千分尺微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,是为了防止()。
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考题 外径千分尺读数时，应先读固定套管上（），再读微分筒上（）；还应注意0．5毫米刻度线是否出现，如果出现要加（）。
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考题 外径千分尺读数时，应先读固定套管上的（），再读微分筒上的（），还应注意刻度线是否出现，如果出现要加（）。
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考题 千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
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考题 千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
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考题 不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的棱边至固定套管刻线面的距离？
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考题 在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A、横刻线B、零线C、纵刻线D、没有关系
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考题 使用千分尺测量工件时下列说法正确的是（）。A、使用中要检查微分筒的零线，使其与固定套筒的基准线对齐B、测量时，转动微分筒，使微分筒与被测量面贴合完好、紧固后，方可读数C、不能在工件转动时进行测量D、不能用千分尺测量毛坯件及未加工面
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考题 测量前需要将千分尺的（）擦拭干净并检查零位是否正确。A、固定套装B、测量面C、微分筒D、测微螺杆
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考题 测量前需要将千分尺（）擦试干净后检查零位是否正确A、固定套筒B、测量面C、微分筒D、测微螺杆
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考题 校对千分尺零位时，微分筒上的（）应与固定套筒的（）为准，微分筒垂直的（）应与固定套筒的（）相切。
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考题 千分尺两测量面将与工件接触时，要使用（），不要直接转动微分筒。A、螺杆B、千分尺C、测力装置D、固定套管
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考题 千分尺的固定套管上刻有纵刻度线，作为微分筒读数的（）.A、分度线B、基准线C、间距线D、公法线
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考题 当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
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考题 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
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考题 检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
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考题 使用千分尺时，如果微分筒的零线与固定套筒的（）没有对准，在测量时就会产生系统误差。A、刻度线B、斜划线C、中线D、零线
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考题 填空题千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
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考题 填空题当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
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考题 填空题外径千分尺读数时，应先读固定套管上的（），再读微分筒上的（），还应注意刻度线是否出现，如果出现要加（）。
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考题 填空题外径千分尺读数时，应先读固定套管上（），再读微分筒上（）；还应注意0．5毫米刻度线是否出现，如果出现要加（）。
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考题 单选题千分尺的固定套管上刻有纵刻度线，作为微分筒读数的（）.A 分度线B 基准线C 间距线D 公法线
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考题 填空题千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
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考题 判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A 对B 错
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考题 单选题在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A 横刻线B 零线C 纵刻线D 没有关系
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