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【判断题】对数幅频特性曲线高频段分贝值越低系统抑制高频干扰能力越强（）。

A．Y.是

B．N.否

参考答案和解析
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考题 高频段表征了系统对高频干扰或噪声的抵抗能力,幅值衰减越快,系统抗干扰能力越强。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 在系统开环伯德图上,低频段反映了闭环系统的稳态特性,中频段反映了闭环系统的动态特性,高频段闭环系统的抗干扰能力特性。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 开环对数幅频特性中的中频段决定() A、系统的型别B、系统的抗干扰能力C、系统的稳态误差D、系统的动态性能
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考题 从频域特征上判断一个调速控制系统的性能,( )。 A.截止频率高，响应就慢B.高频衰减快，抗干扰能力不强C.低频段增益高，稳态精度D.中频段越窄，稳定性越好
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考题 系统开环对数幅频特性曲线与( )的交点频率称为系统的截止频率。A. 0o 线B. 积分环节的对数曲线C. 相频曲线D. 零分贝线
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考题 正交调幅星座图上的点数越多，则()A.频带利用率越低，抗干扰能力越差B.频带利用率越低，抗干扰能力越强C.频带利用率越高，抗干扰能力越差D.频带利用率越高，抗干扰能力越强
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考题 系统对数幅频特性的高频段具有较大的斜率,可增强系统的抗高频干扰能力。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 二阶振荡环节的对数幅频特性的低频段渐近线是一条－20dB／dec的直线,高频段渐近线是一条斜率为－40dB／dec的直线。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 开环对数频率特性的高频段决定系统的()。 A、型别B、稳态误差C、动态性能D、抗干扰能力
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考题 正交调幅星座图上的点数越多，则（）。A、频带利用率越低，抗干扰能力越差B、频带利用率越低，抗干扰能力越强C、频带利用率越高，抗干扰能力越差D、频带利用率越高，抗干扰能力越强
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考题 在信号的变频处理中需要解决镜相及其它干扰问题，频谱仪利用以下哪两种方法解决问题。（）A、在低频段（3GHz）利用高混频和低通滤波器抑制干扰B、在高频段（3GHz）利用高混频和低通滤波器抑制干扰C、在高频段（3GHz）利用带通跟踪滤波器抑制干扰D、在高频段（3GHz）利用带阻跟踪滤波器抑制干扰
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考题 选择滞后校正装置，可以减少系统高频段的幅值，从而削弱高频干扰信号对系统的影响。
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考题 惯性环节对数幅频特性曲线高频段的渐近线斜率为（）dB/dec。A、40B、-20C、-40D、0
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考题 中频段越宽，则系统的（）。A、稳定性越好B、快速性越好C、稳态精度越高D、抗干扰能力越强
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考题 增大开环增益K将对系统频率特性曲线的影响是（）。A、使对数幅频特性曲线向上平移B、使对数幅频特性曲线低频段的斜率改变C、使相频特性曲线产生平移D、对相频特性曲线不产生任何影响
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考题 若过程质量特性值的分布服从正态分布，其标准差为σ，则下列说法正确的是（）A、σ越大，过程能力就越强B、σ越大，分布曲线越来越“高”，越来越“瘦”C、σ越小，过程能力就越强D、σ越大，分布曲线越来越“矮”，越来越“胖”
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考题 一阶比例微分环节对数幅频特性曲线高频段渐近线的斜率为（）dB/dec。A、40B、-20C、20D、0
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考题 开环对数幅频特性的低频段决定了系统的（）。   A、稳态精度B、稳定裕度C、抗干扰性能D、快速性
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考题 在伯德图中反映系统抗高频干扰能力的是（）。A、低频段B、中频段C、高频段D、无法反映
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考题 最小相位系统的开环对数幅频特性三频段分别反映的系统性能是： ①低频段反映（）； ②中频段反映（）； ③高频段反映（）。
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考题 下列关于开环对数频率特性曲线―Bode图，说法不正确的是（）A、开环对视幅频特性L（ω）低频段的斜率表征系统的类型，高度表征开环传递系数的大小B、高频段的分贝值越高，表征系统的抗干扰能力越强C、L（ω）中频段的斜率、宽度h以及截止频率ωc表征系统的动态性能D、低频段能全面表征系统稳态性能
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考题 表征系统的动态性能的是系统的开环对数幅频特性L（ω）的（）。A、低频段B、中频段C、高频段D、低频段的斜率大小
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考题 二阶振荡环节对数幅频特性曲线高频段的渐近线斜率为（）dB/dec。A、40B、-20C、-40D、0
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考题 闭环系统的动态性能主要取决于开环对数幅频特性的（）A、低频段B、中频段C、高频段D、均无关
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考题 CMOS电路工作电压越低（）。A、开关速度越慢B、功耗越小C、抗干扰能力越强D、驱动能力越强
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考题 单选题中频段越宽，则系统的（）。A 稳定性越好B 快速性越好C 稳态精度越高D 抗干扰能力越强
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考题 判断题I型系统对数幅频特性的低频段是一条斜率为－20db/dec的直线。A 对B 错
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考题 单选题正交调幅星座图上的点数越多，则（）A 频带利用率越低，抗干扰能力越差B 频带利用率越低，抗干扰能力越强C 频带利用率越高，抗干扰能力越差D 频带利用率越高，抗干扰能力越强
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