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【填空题】德拜法采用一束特征X射线 照射多晶体试样，并用 底片记录。

参考答案和解析
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考题 X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。 A、增大B、减小C、不变
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考题 中心线是指A.X线束中心部分的一束X线B.X线束中心部分的一条射线C.X线束照射在胶片中心的那一条射线D.X线束照射在胶片中心的那一束X线E.以上均不对
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考题 采用高KV值X射线照相法的特点是适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相。
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考题 小焦点X射线管比大焦点X射线管的好处是：（）A、射线穿透力大B、射线底片清晰度好C、射线底片对比度好D、底片密度高
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 实时射线检测法（Real TimeRT）与传统RT的最大区别在于（）A、实时射线检测通常不采用底片B、实时射线检测通常采用电脑判读C、实时射线检测通常采用微焦点X光机D、实时射线检测通常使用在高能量RT
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考题 射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后，也就确定了下述什么参数？（）A、底片上的密度B、胶片的实际尺寸C、底片上的不清晰度D、底片上的对比度
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考题 采用高KV值X射线照相法的特点是什么？（）A、能获得较高的对比度B、适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相C、能获得清晰度较好的底片D、能扩大被检物的照射范围
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考题 试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子
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考题 在射能量数值相同的情况下，内照射危害最大的是（）。A、α射线照射B、β射线照射C、γ射线照射D、β、γ射线混合照射E、特征X射线照射
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考题 在射线能量值相同的情况下，内照射危害最大的是（）A、α射线照射B、β射线照射C、γ射线照射D、β、γ射线混合照射E、特征X射线照射
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考题 单选题最常用的X射线衍射方法是（）。A 劳厄法；B 粉末多法；C 周转晶体法；D 德拜法。
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考题 问答题衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？
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考题 单选题小焦点X射线管比大焦点X射线管的好处是：（）A 射线穿透力大B 射线底片清晰度好C 射线底片对比度好D 底片密度高
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考题 单选题射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后，也就确定了下述什么参数？（）A 底片上的密度B 胶片的实际尺寸C 底片上的不清晰度D 底片上的对比度
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考题 问答题试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收，以及衍射线记录等方面与德拜法有何异同？测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成多少度角？
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考题 问答题“一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”，此种说法是否正确？
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考题 填空题德拜法衍射花样的测量主要是测量衍射线条的（）和（），然后在计算出θ角和晶面间距。
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考题 单选题德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。A 正装法；B 反装法；C 偏装法；D A+B。
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考题 单选题在射线能量值相同的情况下，内照射危害最大的是（）。A α射线照射B β射线照射C γ射线照射D β、γ射线混合照射E 特征X射线照射
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考题 单选题下列哪一项不是X射线衍射的方法（）A 劳厄法B 粉晶法C 德拜法D 转晶法
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考题 填空题X线管发射的X线是一束波长不等的混合射线，呈（）形放射，X线束中心部分的射线称为（）。
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考题 单选题采用高KV值X射线照相法的特点是什么？（）A 能获得较高的对比度B 适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相C 能获得清晰度较好的底片D 能扩大被检物的照射范围
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考题 单选题在射能量数值相同的情况下，内照射危害最大的是（）。A α射线照射B β射线照射C γ射线照射D β、γ射线混合照射E 特征X射线照射
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考题 多选题X射线衍射方法包括下列哪几种？（）A劳厄法B粉晶法C德拜法D转晶法
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考题 问答题用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？
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考题 单选题实时射线检测法（RealTimeRT）与传统RT的最大区别在于（）A 实时射线检测通常不采用底片B 实时射线检测通常采用电脑判读C 实时射线检测通常采用微焦点X光机D 实时射线检测通常使用在高能量RT
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考题 填空题德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和（）三种。
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