考题
在试样周围放置铅板的目的是()。
A、防止试样移位B、增加被测对象的对比度C、减少试样非曝光区域的散射线影响D、产生较短波长的X射线辐射
考题
采用高KV值X射线照相法的特点是什么?()
A、能获得较高的对比度B、适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相C、能获得清晰度较好的底片D、能扩大被检物的照射范围
考题
对150毫米厚的钢试样进行射线照相检测时,一般采用哪种γ射线源?()
A、60CoB、170TuC、192IrD、137Cs
考题
在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法。
考题
同一品种的纸巾纸的柔软度值（）A、单层试样比双层试样高B、双层试样比单层试样高C、基本无差别D、单层试样比三层试样高
考题
当采用下列哪种方法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏？（）A、荧光屏观察法B、高KV值射线照相法C、低KV值射线照相法D、干板射线照相法
考题
锻件检测一般不采用射线照相法的原因是（）A、大多数锻件厚度较大，射线难以穿透B、锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C、大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D、以上A和B
考题
采用中子照相法时，其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光。
考题
X射线照相时使用的电压值高或低，其衬度不变。
考题
采用高KV值X射线照相法的特点是能获得较高的对比度。
考题
用于射线照相法检验的X和γ射线，它们之间的差别仅在于X射线是高速电子韧致的辐射产物，γ射线是放射性物质原子核裂变的辐射产物。
考题
采用中子照相法时，其曝光需要先经过转换屏转换，然后再使用X射线胶片曝光。
考题
当采用高KV值X射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏。
考题
曝光过程中，试样或胶片偶然移动或使用焦距变小（）。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片
考题
在射线检测中，利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为（）。A、直接照相法B、间接照相法C、透过照相法D、荧光照相法
考题
Y射线照相法对厚度50mm以下的工件检测灵敏度比x射线高。（）
考题
复合钢板的复合层堆焊贴合状况检查通常采用射线照相法。
考题
判断题复合钢板的复合层堆焊贴合状况检查通常采用射线照相法。A
对B
错
考题
单选题同一品种的纸巾纸的柔软度值（）A
单层试样比双层试样高B
双层试样比单层试样高C
基本无差别D
单层试样比三层试样高
考题
单选题在射线检测中，利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为（）A
直接照相法B
间接照相法C
透过照相法D
荧光照相法
考题
单选题在试样周围放置铅板的目的是（）A
防止试样移位B
增加被测对象的对比度C
减少试样非曝光区域的散射线影响D
产生较短波长的X射线辐射
考题
单选题采用高KV值X射线照相法的特点是什么？（）A
能获得较高的对比度B
适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相C
能获得清晰度较好的底片D
能扩大被检物的照射范围
考题
单选题锻件检测一般不采用射线照相法的原因是（）A
大多数锻件厚度较大，射线难以穿透B
锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C
大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D
以上A和B
考题
单选题粉末照相法所用的试样形状为（）A
块状B
分散C
圆柱形D
任意形状
考题
单选题当采用下列哪种方法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏？（）A
荧光屏观察法B
高KV值射线照相法C
低KV值射线照相法D
干板射线照相法