考题
采用()的机床将检测元件装在最后运动执行件之前的某个传动件上。
A.闭环伺服系统B.开环伺服系统C.半闭环伺服系统
考题
按控制方式不同,可将伺服系统分为:开环控制系统、闭环控制系统和()
A.电器伺服系统B.液压伺服系统C.位置控制系统D.半闭环控制系统
考题
按伺服系统的不同，数控伺服系统可分为：()A、开环控制系统B、闭环控制系统C、半闭环控制系统D、自锁控制系统
考题
机床按执行机构特点分类可分为：开环控制系统，闭环控制系统和（）。A、半闭环控制系统B、顺控系统C、直流伺服系统D、交流伺服系统
考题
伺服系统按控制方式划分，有（）等。A、操作伺服系统B、开环伺服系统C、闭环伺服系统D、半开半闭伺服系统
考题
伺服系统按控制方式上可以分为（）等。A、开环系统B、闭环系统C、循环系统D、半闭环系统
考题
（）数控机床的控制精度高。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统
考题
（）可分为开环控制、半闭环控制和全闭环控制。A、数控装置B、伺服系统C、测量反馈装置D、控制器
考题
（）可分为开环控制、半闭环控制和闭环控制。A、数控装置B、伺服系统C、测量反馈装置D、控制器
考题
直接测量机床工作台位移量并反馈给数控装置的伺服系统是（）A、开环伺服系统B、全闭环伺服系统C、半闭环伺服系统
考题
某系统在工作台处拾取反馈信息，该系统属于（）。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、定环伺服系统
考题
某系统在工作台处拾取反馈信息，该系统属于（）。A、半开环伺服系统B、联动环或半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、联动环或定环伺服系统
考题
（）只接收数控系统发出的指令脉冲，执行情况系统无法控制。A、闭环伺服系统B、开环伺服系统C、半闭环伺服系统D、断联伺服系统
考题
（）伺服系统的控制精度最高。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统数控机床
考题
（）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
考题
伺服系统按照有无反馈来分类，可分为开环伺服系统、闭环伺服系统和（）A、闭环步进系统B、半闭环步进系统C、半闭环伺服系统D、主轴伺服系统
考题
开环进给伺服系统比闭环进给伺服系统多一个反馈装置。
考题
控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统
考题
下列哪种伺服系统的精度最高：（）。A、闭环、半闭环系统B、闭环伺服系统C、半闭环伺服系统D、开环伺服系统
考题
在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A、半闭环伺服系统中B、开闭环伺服系统中C、半闭环和全闭环伺服系统中D、只用在全闭环伺服系统中
考题
伺服系统按控制方式可分为开环控制系统和（）系统。
考题
简述开环控制伺服系统和闭环控制伺服系统的特征。
考题
开环伺服系统中无（）元件、结构简单，但精度低；闭环伺服系统直接对输出量检测和反馈，精度高，但结构复杂、成本高。
考题
单选题在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A
半闭环伺服系统中B
开闭环伺服系统中C
半闭环和全闭环伺服系统中D
只用在全闭环伺服系统中
考题
问答题简述开环控制伺服系统和闭环控制伺服系统的特征。
考题
单选题伺服系统的控制精度最高的是（）A
开环伺服系统B
半闭环伺服系统C
闭环伺服系统D
混合环伺服系统数控机床
考题
单选题控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A
开环伺服系统B
半闭环伺服系统C
闭环伺服系统
考题
单选题下列哪种伺服系统的精度最高（）。A
开环伺服系统B
闭环伺服系统C
半闭环伺服系统D
闭环、半闭环系统