考题
只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是()。
A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统数控机床
考题
只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是( )。
A: 开环伺服系统B: 半闭环伺服系统C: 闭环伺服系统D: 混合环伺服系统
考题
机床按执行机构特点分类可分为：开环控制系统，闭环控制系统和（）。A、半闭环控制系统B、顺控系统C、直流伺服系统D、交流伺服系统
考题
伺服系统按控制方式划分，有（）等。A、操作伺服系统B、开环伺服系统C、闭环伺服系统D、半开半闭伺服系统
考题
（）数控机床的控制精度高。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统
考题
（）可分为开环控制、半闭环控制和全闭环控制。A、数控装置B、伺服系统C、测量反馈装置D、控制器
考题
（）可分为开环控制、半闭环控制和闭环控制。A、数控装置B、伺服系统C、测量反馈装置D、控制器
考题
直接测量机床工作台位移量并反馈给数控装置的伺服系统是（）A、开环伺服系统B、全闭环伺服系统C、半闭环伺服系统
考题
某系统在工作台处拾取反馈信息，该系统属于（）。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、定环伺服系统
考题
某系统在工作台处拾取反馈信息，该系统属于（）。A、半开环伺服系统B、联动环或半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、联动环或定环伺服系统
考题
（）只接收数控系统发出的指令脉冲，执行情况系统无法控制。A、闭环伺服系统B、开环伺服系统C、半闭环伺服系统D、断联伺服系统
考题
（）伺服系统的控制精度最高。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统数控机床
考题
（）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
考题
闭环进给伺服系统比开环进给伺服系统比多一个（）。
考题
开环进给伺服系统比闭环进给伺服系统多一个反馈装置。
考题
控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统
考题
下列哪种伺服系统的精度最高：（）。A、闭环、半闭环系统B、闭环伺服系统C、半闭环伺服系统D、开环伺服系统
考题
在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A、半闭环伺服系统中B、开闭环伺服系统中C、半闭环和全闭环伺服系统中D、只用在全闭环伺服系统中
考题
通过安装在丝杆轴端的编码器获得的工作台的位置进行定位，该系统属于（）。A、开环伺服系统B、闭环伺服系统C、半开环伺服系统D、半闭环伺服系统
考题
简述开环控制伺服系统和闭环控制伺服系统的特征。
考题
数控机床进给伺服系统的结构形式可分为开环和闭环。
考题
填空题数控机床按伺服类型分类，有开环伺服系统数控机床、闭环伺服系统数控机床和半闭环伺服系统数控机床以及（）数控机床。
考题
问答题简述开环控制伺服系统和闭环控制伺服系统的特征。
考题
单选题伺服系统的控制精度最高的是（）A
开环伺服系统B
半闭环伺服系统C
闭环伺服系统D
混合环伺服系统数控机床
考题
单选题控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A
开环伺服系统B
半闭环伺服系统C
闭环伺服系统
考题
单选题下列哪种伺服系统的精度最高（）。A
开环伺服系统B
闭环伺服系统C
半闭环伺服系统D
闭环、半闭环系统