考题
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
（哈科）THDS-C系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性，每条曲线长度为32个点。
考题
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
（哈科）THDS-C系统直流光子探头静态输出电压：+1.000±0.010V。
考题
（哈科）THDS-C系统月检时要求直流光子探头漂移小于150mV/5min。
考题
（哈科）THDS-C系统直流光子探头具有响应率高、稳定度高、可靠性高等特点。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
（哈科）THDS-B系统衡柳线使用的外探探头采用（）。A、光子调制探头B、光子直流探头C、热敏调制探头D、热敏直流探头
考题
（哈科）THDS-C系统ZR磁钢噪声检测正常指标为150mV。
考题
（哈科）THDS-C系统直流光子探头静噪声：≤10mV（有效值）。
考题
（哈科）THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数：2路，每路控制1个光子探头。
考题
（哈科）THDS-B系统热敏探头在动态噪声应小于（）Vp-p，超标换修。A、100mVB、50mVC、200mVD、150mV
考题
THDS-A（哈科所）探测站中光子探头应满足以下（）技术要求。A、噪声电压＜80mVB、漂移＜150mVC、噪声电压＜100mVD、漂移＜200mVE、噪声电压＜150mV
考题
单选题（哈科）THDS-B系统衡柳线使用的外探探头采用（）。A
光子调制探头B
光子直流探头C
热敏调制探头D
热敏直流探头
考题
判断题（哈科）THDS-C系统直流光子探头具有响应率高、稳定度高、可靠性高等特点。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统直流光子探头静态输出电压：+1.000±0.010V。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统直流光子探头静噪声：≤10mV（有效值）。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中光子探头应满足以下（）技术要求。A噪声电压＜80mVB漂移＜150mVC噪声电压＜100mVD漂移＜200mVE噪声电压＜150mV
考题
单选题（哈科）THDS-B系统直流探头月检标准，5min飘移应小于（），超标换修。A
100mVB
200mVC
250mVD
300mV
考题
判断题（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数：2路，每路控制1个光子探头。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性，每条曲线长度为32个点。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统ZR磁钢噪声检测正常指标为150mV。A
对B
错