考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中轨边探头箱的主要作用有（）。A、防雪B、测温C、保护探头D、测速E、测距
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A、半自动B、自动C、手动D、固定曲线E、线性折算
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头仰角为（）。A、40ºB、50ºC、45ºD、60º
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。
考题
THDS-A（哈科所）探测站更换光子探头后，以下做法正确的有（）。A、删除旧曲线，重新校曲线B、探头重新标定C、重新调整角度D、不重新校曲线，可用另一侧曲线E、不用重新调整角度
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A半自动B自动C手动D固定曲线E线性折算
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站更换光子探头后，以下做法正确的有（）。A删除旧曲线，重新校曲线B探头重新标定C重新调整角度D不重新校曲线，可用另一侧曲线E不用重新调整角度
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中光子探头应满足以下（）技术要求。A噪声电压＜80mVB漂移＜150mVC噪声电压＜100mVD漂移＜200mVE噪声电压＜150mV
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
热敏探头和光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站右侧探头箱上盖的标识字母为（）。A
ZB
YC
LD
R
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站用示波器测量探头噪声时，光子探头噪声≥（）时需更换。A
100mVB
95mVC
90mVD
80mV
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站标准配置下探头位置是（）。A
内光子、外热敏B
内热敏、外光子C
双热敏D
双光子
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变