考题
ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）和（）。
考题
ICP-AES法中的光谱干扰主要存在哪几种类型？
考题
在ICP-AES中产生光谱干扰的来源有哪几种？
考题
影响ICP－AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）、（）。
考题
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
ICP-AES法测定水中多元素时，消除最简单的方法是将样品稀释。（）A、物理干扰B、化学干扰C、电离子干扰
考题
ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数IC.P光谱仪软件中采用这种方法。
考题
用ICP－AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。
考题
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰
考题
ICP-AES法存在的主要干扰有（）、（）、（）、（）和（）。
考题
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。
考题
ICP-AES法中常用的介质有稀盐酸和（）。A、稀硫酸B、稀硝酸C、稀磷酸
考题
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属样品时，如何校正ICP-AES法的非光谱干扰？
考题
ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。
考题
单选题ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A
光谱干扰B
化学干扰C
电离干扰
考题
填空题影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）和（）。
考题
问答题ICP-AES法中的光谱干扰主要存在哪几种类型？
考题
填空题ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。
考题
单选题ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除（）。A
物理干扰B
化学干扰C
电离干扰
考题
问答题ICP-AES法对分离技术的要求有哪些？
考题
判断题ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。A
对B
错
考题
单选题ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A
物理干扰B
化学干扰C
电离干扰
考题
问答题电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属样品时，如何校正ICP-AES法的非光谱干扰？
考题
单选题ICP-AES法中常用的介质有稀盐酸和（）。A
稀硫酸B
稀硝酸C
稀磷酸