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问答题
颗粒分析试样

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考题 原子吸收光谱仪在工作过程中出现分析结果偏低的故障时，常见的原因有A、试样挥发不完全，细雾颗粒大，在火焰中未完全离解B、被测试样浓度太高，仪器工作在非线性部分C、标准溶液变质D、试样污染E、假吸收
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考题 关于土的颗粒分析试验请回答以下问题。（5）采用筛分法试验时，某试样粒径小于2mm的颗粒质量百分数为30%，从通过2mm筛的土样中取试样10g再次筛分，通过1.18mm筛的颗粒质量6.5g，则该试样小于1.18mm筛的质量百分数为（）。 A.19.5% B.30% C.35% D.65%
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考题 关于土的颗粒分析试验请回答以下问题。（2）有关筛分法，说法正确的是（ ）。A.适用分析粒径大于2.36mm的土粒组成 B.筛后各级筛上和筛底土总质量与筛前试样质量之差，不应大于1% C.在选用分析的孔径时，可根据试样颗粒的粗、细情况灵活选用 D.用风干土样进行筛分试验，按四分法取代表性试样，数量随粒径大小而异，粒径越大，数量越多
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考题 用于筛分析的试样，颗粒粒径可大于10mm。（）
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考题 颗粒分析中密度计法适用于粒径（）mm的试样。A、小于0.075B、大于0.075C、小于0.25D、大于0.25
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考题 化学分析方法根据试样用量不同，可分为常量分析，微量分析和半微量分析等，其常量分析试样用量（），微量分析试样用量（）。
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考题 颗粒分析试样
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考题 净度检验中，可进行全试样分析，也可进行两份半试样分析，这里两份半试样就是2．5试样的意思。
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考题 常量分析，试样重量＞（）毫克，试样体积（）毫升。
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考题 试样过筛时，凡不能过筛的颗粒，决不能（）
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考题 粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。A、100目B、120目C、150目D、180目
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考题 固体试样通过（）、（）程序加工处理制得分析试样。
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考题 吸管法进行悬移质颗粒分析，用0.062mm孔径洗筛将试样分成两部分，筛下部分作（）处理。A、絮凝B、反凝C、沉淀D、悬浮
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考题 消光法进行悬移质颗粒分析，用0.062mm孔径洗筛将试样分成两部分，筛下部分作（）处理。A、絮凝B、反凝C、沉淀D、悬浮
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考题 消光法分析颗粒级配，搅拌沉降盒内试样使其均匀，停止搅拌的同时开始沉降记时；在沉降过程中，根据选择的沉降扫描方式对试样进行（）。A、扫刷B、扫动C、扫除D、扫描
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考题 筛分法做颗粒分析，筛后各级筛上和筛底总质量与筛前试样质量之差，不应大于（）。A、0.5％B、1％C、1.5％D、2％
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考题 砂筛分析试验时，应剔除烘干试样中大于（）的颗粒。A、9.50B、9.0C、5.00D、4.75
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考题 简述土工合成材料孔径测定（干筛法）试验的试样数量确定、试样的准备、标准颗粒材料的准备。
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考题 达西定律中的面积A是（）。A、试样的总截面积B、试样截面的土颗粒面积C、试样截面的孔隙面积D、测压管截面积
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考题 单选题达西定律中的面积A是（）。A 试样的总截面积B 试样截面的土颗粒面积C 试样截面的孔隙面积D 测压管截面积
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考题 单选题以X表示小于某粒径的试样质量占试样总质量的百分数，以d表示土粒直径。土的颗粒分析数据表示在（）图形上。A X～dB lgX～dC lgX～lgdD X～lgd
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考题 单选题砂筛分析试验时，应剔除烘干试样中大于（）的颗粒。A 9.50B 9.0C 5.00D 4.75
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考题 单选题消光法分析颗粒级配，搅拌沉降盒内试样使其均匀，停止搅拌的同时开始沉降记时；在沉降过程中，根据选择的沉降扫描方式对试样进行（）。A 扫刷B 扫动C 扫除D 扫描
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考题 判断题用于筛分析的试样，颗粒粒径可大于10mm。（）A 对B 错
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考题 单选题水泥混凝土用粗集料针片状含量的计算结果一般情况下是以（）来计A （试样中所含针状颗粒与片状颗粒的总质量/试样的总质量）×100%B （试样中所含针状颗粒质量/试样的总质量）×100%C （试样中所含片状颗粒的质量/试样的总质量）×100%D （试样中所含针状颗粒总质量/片状颗粒质量）×100%E （试样中所含针状颗粒与片状颗粒的总颗粒数量/试样的总颗粒数）×100%
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考题 多选题原子吸收光谱仪在工作过程中出现分析结果偏低的故障时，常见的原因有（）。A试样挥发不完全，细雾颗粒大，在火焰中未完全离解B被测试样浓度太高，仪器工作在非线性部分C标准溶液变质D试样污染E假吸收
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考题 单选题颗粒分析中密度计法适用于粒径（）mm的试样。A 小于0.075B 大于0.075C 小于0.25D 大于0.25
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