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多选题
可靠性试验的缺陷有()。
A

系统性缺陷

B

残余缺陷

C

设备缺陷

D

检测缺陷


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 下列关于可靠性试验的说法,正确的有( )。A.可靠性试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段,目的是使产品可靠性增长B.环境应力筛选试验不但可以提高产品的固有可靠性,还可以提高产品的可靠性水平C.可靠性增长试验本身并不能提高产品的可靠性,只有采取了有效的纠正措施产品的可靠性才能真正提高D.可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平E.可靠性验收试验的目的是对产品合格与否做出判定

考题 可靠性试验的目的包括( )。A.发现产品设计方面的缺陷B.发现元器件、零部件的缺陷C.发现原材料和工艺方面的缺陷D.用试验数据来说明产品是否符合可靠性定量要求E.发现加工设备的缺陷

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括( )、可靠性增长试验。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性测定试验D.可靠性验收试验

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括( )。A.环境应力试验B.可靠性增长试验C.可靠性鉴定试验D.可靠性验收试验E.可靠性测定试验

考题 可靠性试验可分为工程试验和( )。A.统计试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性验收试验D.可靠性增长试验

考题 产品可靠性试验的目的有( )。 A.发现设计缺陷 B.发现工艺缺陷 C.发现零件缺陷 D.发现保养缺陷 E.发现修理缺陷

考题 关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。 A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障 B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性 C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验 D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验 E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

考题 寿命试验的用途有()。A、可靠性测定B、可靠性验证C、可靠性鉴定D、可靠性描述

考题 可靠性试验的缺陷有()。A、系统性缺陷B、残余缺陷C、设备缺陷D、检测缺陷

考题 氟利昂系统充氮压力检查后,为防止设备和管路中存在单向漏气的缺陷,还需经过真空试验,确保系统密封的可靠性

考题 可靠性增长试验的方式有()A、试验--改进--再试验B、试验--发现问题--再试验C、待延缓改进试验--改进--再试验D、可靠性描述

考题 关于可靠性试验适用时机的正确说法有()。A、环境应力筛选适用于研发阶段、生产阶段B、可靠性研制试验适用于研发阶段C、可靠性鉴定试验适用于批量生产阶段D、可靠性验收试验适用于设计确认阶段

考题 ()的目的是为了暴露产品设计、工艺、元器件、原材料等方面存在的缺陷、薄弱环节和故障,为提高产品可靠性提供信息。A、验收试验B、鉴定试验C、统计试验D、工程试验

考题 可靠性研制试验中高于实际使用应力条件的试验有()。A、可靠性增长摸底试验B、可靠性摸底试验C、可靠性强化试验D、高加速寿命试验

考题 关于环境应力筛选与可靠性统计试验关系的正确说法有()。A、环境应力筛选是可靠性统计试验的预处理工艺B、任何提交用于可靠性统计试验的样本必须经过环境应力筛选C、先进行可靠性统计试验,后进行环境应力筛选D、不进行环境应力筛选,直接进行可靠性统计试验

考题 通过在产品上施加一定的环境应力,以剔除由不良元器件、零部件或工艺缺陷引起的产品早期故障的一种方法或工序是()。A、可靠性鉴定试验B、环境应力筛选C、可靠性验收试验D、可靠性增长试验

考题 可靠性试验的种类有哪些?

考题 半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验

考题 可靠性增长试验的相关问题有()。A、可靠性增长试验的适用范围B、可靠性增长试验对受试产品的要求C、可靠性增长试验的选择D、可靠性增长试验与可靠性增长试验与可靠性鉴定试验的关系E、可靠性增长试验的随机性

考题 可靠性试验目的有哪些?

考题 充氮压力检查后,为防止设备和管路中存在单向漏气的缺陷,还需经过真空试验,确保系统密封的可靠性。

考题 多选题产品可靠性试验的目的有(  )。[2008年真题]A发现设计缺陷B发现工艺缺陷C发现零件缺陷D发现保养缺陷E发现修理缺陷

考题 单选题可靠性试验可分为工程试验和(  )。A 统计试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收试验D 可靠性增长试验

考题 多选题可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是(  )。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C产品性能试验D可靠性验收试验E可靠性增长试验

考题 多选题可靠性增长试验的方式有()A试验--改进--再试验B试验--发现问题--再试验C待延缓改进试验--改进--再试验D可靠性描述

考题 多选题可靠性试验的缺陷有()。A系统性缺陷B残余缺陷C设备缺陷D检测缺陷

考题 单选题半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收实验D 环境应力筛选试验

考题 多选题寿命试验的用途有()。A可靠性测定B可靠性验证C可靠性鉴定D可靠性描述