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下列关于P控制图的叙述中，正确的有（）。
A．P图是控制生产过程的加工时间的控制图
B．P图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C．P图中的各个子组大小可以不相等
D．P图的统计基础是二项分布
E．P图的统计基础是泊松分布
参考答案和解析
P 图是控制生产过程的不合格品率的控制图;P 图中的各个子组大小可以不相等;P 图的统计基础是二项分布
更多 “下列关于P控制图的叙述中，正确的有（）。A．P图是控制生产过程的加工时间的控制图B．P图是控制生产过程的不合格品率的控制图C．P图中的各个子组大小可以不相等D．P图的统计基础是二项分布E．P图的统计基础是泊松分布” 相关考题
考题
下列关于p图的描述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率p的控制图
考题
关于常规计量控制图与P图的对比，正确的有（ ）。A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.计量控制图要求、测量出具体量值D.计量控制图适用于控制多个特性的场合E.P图更为灵敏
考题
下列有关p图的叙述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则户控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率P的控制图
考题
关于p控制图的说法，正确的有（ ）。A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图C.P图中的各个子组大小可以不相等D.P图的统计基础是二项分布E.P图的统计基础是泊松分布
考题
关于控制图选用的说法,正确的有( )。A.当子组样本量较大时,为方便计算应选取均值一极差图SXB
关于控制图选用的说法，正确的有（ ）。A.当子组样本量较大时，为方便计算应选取均值一极差图B.对于计数控制图，当样本量不同时应选择P图或u图C.当控制对象为计件值时应选择C图或"图D.计量控制图比计数控制图效率高，应尽量选用计量控制图E.样本难以获取或检验费用过高的场合适宜选择单值控制图
考题
下列选择适宜控制图进行过程监控的做法中，正确的有（ ）。
A.对于产品质量稳定、均匀的过程可以选用单值图
B.计量控制图的检出力高于计数控制图
C.计量控制图与计数控制图具有相同的控制时效性
D.使用X-R图时样本量（子组大小）宜取4或5
E.使用p图和u图时样本量（子组大小）必须为常数
考题
控制图按用途分为分析用控制图和管理用控制图，下列有关管理用控制图的叙述，正确的有（ ）。A.可以用来控制生产过程
B.可以用来控制质量成本
C.可以找出质量问题的原因
D.是静态的
E.是动态的
考题
下列关于控制图的说法中，正确的是（ ）。
A.分析用控制图是动态的
B.生产过程稳定，则把管理用控制图转为分析用控制图
C.点子落在控制界限内，不用观察其有无缺陷
D.绘制控制图是为了判断生产过程是否处于稳定状态
考题
下列关于p控制图的叙述中，正确的有（ ）。[2008年真题]
A. p图是控制生产过程的加工时间的控制图
B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C. p图中的各个子组大小可以不相等
D. p图的统计基础是二项分布
E. p图的统计基础是泊松分布
考题
关于常规计量控制图与图的对比，正确的有（ ）。
A.计量控制图子组大小要求较大
B.计量控制图子组大小要求较小
C.计量控制图要求测量出具体量值
D.计量控制图适用于控制多个特性的场合
E. p图更为灵敏
考题
某产品对外观质量的要求，如有划痕，则每个划痕都被认为是缺陷，每天检查的产品数量不全相同。如果控制的重点是划痕，则对于控制图的选用，下列正确的是（）。A、使用c控制图B、使用u控制图C、使用P控制图D、使用np控制图
考题
以下关于TC模型的叙述中，正确的有（）。A、TC有E2E-TC和P2P-TC两种模式B、E2E-TC只计算设备时延C、TC模型端口状态存在Master、Slaver和PassiveD、P2P-TC同时计算设备及链路时延
考题
下列关于生态制图的说法，正确的有（）A、生态制图是将生态学的研究结果用图的方式表达B、生态制图具有直观、易懂的特点C、生态制图不能直接用于影响评价D、生态制图有手工制图和计算机制图两种方法E、生态制图是进行环境影响评价的重要表达方式
考题
多选题下列关于生态制图的说法，正确的有（）A生态制图是将生态学的研究结果用图的方式表达B生态制图具有直观、易懂的特点C生态制图不能直接用于影响评价D生态制图有手工制图和计算机制图两种方法E生态制图是进行环境影响评价的重要表达方式
考题
多选题下列关于p图的描述正确的有（ ）。Ap图的统计基础是泊松分布B如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的Ep图是控制过程的合格品率P的控制图
考题
单选题某产品对外观质量的要求，如有划痕，则每个划痕都被认为是缺陷，每天检查的产品数量不全相同。如果控制的重点是划痕，则对于控制图的选用，下列正确的是( )。A
使用c控制图B
使用u控制图C
使用P控制图D
使用np控制图
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