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电子探针X射线显微分析的缩写是
A.TEM
B.SEM
C.EPMA
D.DTA
参考答案和解析
C
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考题
原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
考题
问答题实验室有X射线衍射仪器,扫描电镜,电子探针、透射电镜、X射线光电子能谱仪和差示扫描量热仪等测试仪器,现对非晶块体材料AmBn进行分析: (a)AmBn热稳定性分析; (b)结构分析; (c)物相分析。 试确定实验方案,并指出分析目的。
考题
单选题目前耐火材料的矿物组成和显微结构的方法,一般是通过()观察,以及X射线分析,差热分析和衍射鉴定等。A
矿物量B
物相C
显微镜
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