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曲面工件探测时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面，使入射点改变，从而引起K值变化。

参考答案和解析
软保护膜直探头
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考题 按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:下列叙述与检测技术等级无关的是:() A.纵向缺陷的检测B.横向缺陷的检测C.探头K值及探头数量D.直径≤500mm曲面工件对接焊缝用曲面对比试块。
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考题 探头入射点是指超声波从探头进入工件时的那一点。 （ ）此题为判断题(对，错)。
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考题 探头入射点是()波探头或表面波探头上发射声束轴线通过探头底面的点。
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考题 用平探头对曲面工件接触法探伤时，探伤面曲率越大，耦合效果（）。
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考题 横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A、探头磨损会使入射点发生变化B、探头磨损可能导致探头K值的增大C、探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、探头磨损可能导致探头K值的减小
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考题 CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
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考题 为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（）A、小K值探头B、大K值探头C、软保护膜探头D、高频探头
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考题 斜探头折射角的正切值称为k值，数值上等于（）A、工件的厚度B、探头的长度与宽度的比值C、斜探头入射点至反射点的水平距离与相应深度的比值D、入射点至反射点的距离
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考题 在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（）A、硬保护膜直探头B、软保护膜直探头C、大尺寸直探头D、高频直探头
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考题 在粗糙表面或曲面工件上作直探头检测时，应使用（）。A、硬保护膜探头B、软保护膜探头C、大尺寸探头D、高频直探头
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考题 按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定：下列叙述与检测技术等级有关的是：（）A、纵向缺陷的检测B、横向缺陷的检测C、探头K值及探头数量D、直径≤500mm曲面工件对接焊缝用曲面对比试块
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考题 探头发射的声能聚集而形成声束线聚焦应选用的声透镜为（）。A、圆柱曲面B、球面曲面C、凸面形D、凹面形
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考题 探头入射点是指超声波从探头进入工件时的那一点。
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考题 耦合剂的主要作用是（）A、补偿被探件表面粗糙B、补偿因曲面引起的灵敏度下降C、确保探头与工件声能的传递D、补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减
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考题 在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应用（）直探头。
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考题 横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。下列说法错误的是（）。A、探头磨损会使入射点发生变化B、 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C、 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、 探头磨损可能导致扫描速度的变化
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考题 检测筒状工件时选择K值应满足（）。A、r/D＜86%时，用K＝1的探头B、r/D≤96%时，用K＝2的探头C、r/D≤97.5%时，用K＝2.5的探头D、以上都对
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考题 填空题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应用（）直探头。
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考题 单选题横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A 探头磨损会使入射点发生变化B 探头磨损可能导致探头K值的增大C 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D 探头磨损可能导致探头K值的减小
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考题 单选题检测筒状工件时选择K值的应满足（）。A r/D＜86%时，用K＝1的探头B r/D≤96%时，用K＝2的探头C r/D≤97.5%时，用K＝2.5的探头D 以上都对
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考题 判断题探头入射点是指超声波从探头进入工件时的那一点。A 对B 错
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考题 单选题斜探头折射角的正切值称为k值，数值上等于（）A 工件的厚度B 探头的长度与宽度的比值C 斜探头入射点至反射点的水平距离与相应深度的比值D 入射点至反射点的距离
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考题 单选题横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。下列说法错误的是（）。A 探头磨损会使入射点发生变化B  探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C  探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D  探头磨损可能导致扫描速度的变化
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考题 单选题为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（）A 小K值探头B 大K值探头C 软保护膜探头D 高频探头
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考题 单选题耦合剂的主要作用是（）A 补偿被探件表面粗糙B 补偿因曲面引起的灵敏度下降C 确保探头与工件声能的传递D 补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减
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考题 单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A  直探头的的远场分辨力B  斜探头的K值C  斜探头的入射点D  斜探头的声束偏斜角
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考题 单选题在粗糙表面或曲面工件上作直探头检测时，应使用（）。A 硬保护膜探头B 软保护膜探头C 大尺寸探头D 高频直探头
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考题 单选题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（）A 硬保护膜直探头B 软保护膜直探头C 大尺寸直探头D 高频直探头
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