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简述AFM工作原理和成像模式
参考答案和解析
1）接触模式：利用原子斥力，又分为恒高模式、恒力模式、侧向力模式和扩展电阻成像模式，具有稳定的高分辨率的图像。
2）非接触模式：利用原子吸引力。
敲击模式（作用在样品上的力是恒定的），优越性：尽管没有接触模式的分辨率高，但是敲击模式在一定程度上减小样品对针尖的粘滞现象，因为针尖与样品表面接触时，利用其振幅来克服针尖-样品间的粘附力。并且由于敲击模式作用力是垂直的，表面材料受横向摩擦力和剪切力的影响都比较小，减小扫描过程中针尖对样品的损坏。所以对于较软以及粘附性较大的样品，尽量选用敲击模式。
轻敲模式：作为轻敲模式的一项重要的扩展技术，相移模式（相位移模式）是通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差（即两者的相移）的变化来成像。一种重要的原子力显微镜检测技术。
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考题
问答题简述X线成像的基本原理及具体成像过程。
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