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利用均值一极差图控制过程，得到X=65，R = 2.0,查表得A2=0. 577、D4 =2.115，D3=0.从现场采集一组数据，X=67.1，R = 5。可以得到的结论是( )。
A. X在控制限内 B. X在控制限外
C. R在控制限内 D. 在控制限外
E.无法判断
A. X在控制限内 B. X在控制限外
C. R在控制限内 D. 在控制限外
E.无法判断
参考答案
参考解析
解析：。极差图的控制限为：UCL=D4R = 2. 115X2 = 4.23，LCL=0,均值图的控
更多 “利用均值一极差图控制过程，得到X=65，R = 2.0,查表得A2=0. 577、D4 =2.115，D3=0.从现场采集一组数据，X=67.1，R = 5。可以得到的结论是( )。 A. X在控制限内 B. X在控制限外 C. R在控制限内 D. 在控制限外 E.无法判断” 相关考题
考题
X−R控制图比X－MR(单值移动极差)控制图应用更为普遍的原因在于:()
A.X−R图可适用于非正态的过程B.X−R有更高的检出力C.X−R图作图更为简便D.X−R图需要更少的样本含量
考题
某生产企业用x-R控制图法控制零件的外径尺寸。从生产现场按时间顺序随机抽取n=5的样本20组，获得了100个样品的外径尺寸值。已知：当n－5时，A．－0.577，n－2.115.当又－10，各组极差值的平均值为1时，则X控制图的上限为（ ）。A．10.577B．11.731C．12.115D．12.577
考题
某车间生产圆柱销，需控制其外径尺寸，标准为φ10±0.20mm。质检人员按时间顺序随机抽取n=5的样本20组，根据检验结果计算得出X=10.02，R=0.02。则又图的控制上限为（ ）。{Page}(已知：当n=5时，A2=0.577，D4=2.115)A．9.5970B．9.9046C．10.1354D．10.4430
考题
利用均值一极差图控制过程，得到X=65，R=2.0，查表得A2=0.577、D4=2.115，D3=0。从现场采集一组数据，X=67.1，R=5。可以得到的结论是（ ）。A.X在控制限内B.X在控制限外C.R在控制限内D.R在控制限外E.无法判断
考题
根据材料，回答下列各题。 根据历史数据绘制X-R控制图，子组大小等于5。经计算，X=33.5，R=6.2，查表得A2=0.577，D4=2.115，D3为0。从现场收集一子组，观测数据为38,29,32,31,36。 X图的上下控制限分别为（ ）。A.37，30B.32，25C.28．24D.42.40
考题
如图所示，导体回路处在一均匀磁场中，B = 0. 5T，R= 2Ω，ab边长L=0. 5m，可以滑动，α=60°，现以速度v=4m/s将ab边向右匀速平行移动，通过R的感应电流为：
A. 0. 5A B. -1A C.-0. 86A D. 0. 43A
考题
若收集了 20 组数据(xi,yi), i =1， 2，…20，并求得Lxx= 330,Lxy = 168, Lyy = 88. 9，若取显著性水平为0. 05, r0.975 (n-2) = 0. 444，则有( )。
A.相关系数r为0.98
B.在显著性水平0. 05上，y与x具有线性相关关系
C.相关系数r为0.006
D.在显著性水平0. 05上，y与x不具有线性相关关系
E.在显著性水平0. 05上，y与x不具有函数关系
考题
实验室对30块混凝土试件进行强度试验，分别测定了其抗压强度R和回弹值N，现建立了R-N的线性回归方程。经计算Lxx=632. 47，Lxy=998. 46，Lyy=1788. 36，相关系数临界值rβ=0.361，检验R-N的相关性：（ ）。A、r = 0. 4733，r>0. 361，R-N之间线性相关
B、r = 0. 9388，r>0. 361，R-N之间线性相关
C、r = 0. 4733，r>0. 361，R-N之间无线性关系
D、r = 0. 9388，r>0. 361，R-N之间无线性关系
考题
某药物一级速率常数为1.7478 X 10-4
[天} -1,其半衰期为
A. 0. 3965 X IO3 天
B. 3. 965 X IO4 天
C. 0. 3965 X IO4 天
D. 39. 65 X IO5 天
E. 0. 3965 天
考题
由 12 对数据 （xi，yi）,i = 1，2,…，12，算得 Lxx=165，Lyy=372, Lxy=﹣232，则X与Y间的相关系数r为（ ）。
A. 0. 936 B. ﹣0. 936
C. 0.875 D. ﹣0. 875
考题
利用样本数据计算均值一极差图的控制限，得到X=65，R=2.0，查表得A2 =0.577，D4 = 2. 115, D3=0。从现场采集一组数据，计算得到：X=67.1，R = 5；可以得到的结论是（ ）。
A. X与R均在控制限外
B. X在控制限内，R在控制限外
C. X在控制限外，R在控制限内
D. X与R均在控制限内
考题
某企业希望利用控制图对生产批量大、长期进行加工的轴外径尺寸进行监控，为此，首先确定了选用的控制图类型，并制定数据收集计划绘制分析用控制图。
利用样本数据计算得：X=35，s=1.0,查表得A3 = 1.427,得到均值图的控制限为（）。
A. UCL=36.427 B. CL=35
C. LCL=33. 573 D. UCL=35. 427
考题
6.2,查表得A2=0. 577，D4=2.115，D3为0。从现场收集一子组，观测数据为38， 29， 32， 31， 36.
将现场收集的子组数据在控制图上绘点，则（）。
A. R图中的描点在界内，又图中的描点出界
B. R图中的描点出界，又图中的描点在界内
C. X图和R图中的描点均在界内
D.图和R图中的描点均在界外
考题
6.2,查表得A2=0. 577，D4=2.115，D3为0。从现场收集一子组，观测数据为38， 29， 32， 31， 36.
R图的上控制限为（ ）。
A. 15 B. 8
C. 13 D. 10
考题
图纸规定，打孔直径规范限为φ10. 62±0. 03 mm。车间利用均值一标准差控制图控制打孔直径的波动，一段时间以来打孔直径比较稳定，打孔直径的标准差 σ=0. 015,则打孔工序的过程能力指数为（ ）。
A. 0. 33 B. 0. 5
C. 0. 67 D. 1
考题
6.2,查表得A2=0. 577，D4=2.115，D3为0。从现场收集一子组，观测数据为38， 29， 32， 31， 36.
X图的上下控制限分别为（）。
A. 37， 30 B. 32, 25
C. 28, 24 D. 42, 40
考题
制作直方图第三步是求出极差R，关于极差以下说法正确的是（）。A、数据最大值-最小值=极差（R）B、数据最大值-平均值=极差（R）C、数据平均值-最小值=极差（R）D、数据最小值-最大值=极差（R）
考题
用同一标准方法在同一标准物质至少得到20个测定结果，这20个测定结果不要在一天内得到，这些结果最好是日常累积起来的。求出这20个结果的平均值和标准偏差，以平均值为中线，2倍标准偏差为警戒限，3倍标准偏差为控制限，然后依次把测定结果标在图中并连成线，这种方法做的图叫（）A、X控制图—B、X—R控制图C、多重控制图D、多重R控制图和极差比RR控制图
考题
单选题根据历史数据绘制—R控制图，子组大小等于5，经计算：＝28，＝6．2,查表得A2=0．577,D4=2．114,从现场收集了一组数据为：38，29，32，21，26，则回答题：图的上下控制限分别为（）。A
37，27B
32,25C
28,24D
42,40
考题
单选题制作直方图第三步是求出极差R，关于极差以下说法正确的是（）。A
数据最大值-最小值=极差（R）B
数据最大值-平均值=极差（R）C
数据平均值-最小值=极差（R）D
数据最小值-最大值=极差（R）
考题
单选题某机器生产电子盘片，为控制其重量，应采用（）A
不合格品率p控制图B
均值一极差x-R控制图C
中位数一极差Me-R图D
不合格品数np控制图
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