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填空题
射线照片上所能记录的细节最小尺寸决定于()

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考题 截留能力就是各种介质所能截留的()颗粒尺寸。 A、最小B、最大C、一般D、中间

考题 测量范围是量具所能测出被测尺寸的最大值与最小值。 ( ) 此题为判断题(对,错)。

考题 C型显示所能提供的超声波探伤记录,其主要参数是() A、缺陷深度和尺寸B、缺陷深度、取向和尺寸C、缺陷的位置和深度D、缺陷的位置和尺寸(平面视图)

考题 射线照相灵敏度这个概念是用来描述()的A、射线照片记录、显示细节的能力B、射线照相能够发现的最小缺陷尺寸C、射线照相能够发现最小缺陷能力的定量评价D、以上都对

考题 量具和量仪所能测出的最大和最小的尺寸范围,称为()A、示值范围B、测量范围C、示值稳定性

考题 设备的(),通常以设备上所能加工的最大(或最小)工件的尺寸来表示。A、运动参数B、功率参数C、主参数D、一般技术参数

考题 射线照片上所能记录的细节最小尺寸决定于()

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考题 上偏差是最小极限尺寸与基本尺寸的代数差。

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考题 决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是()A、对比度B、不清晰度C、颗粒度D、以上都是

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考题 下面的叙述中正确的是()A、射线照片上影像的对比度决定了沿射线透照方向上可识别的细节尺寸B、射线照片上影像的不清晰度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸C、射线照片上影像的颗粒度决定了影像可记录的细节最小尺寸D、以上都对

考题 按照经典理论,超声波检测方法所能检测的最小缺陷尺寸大约是二分之一波长

考题 下列各项中不影响射线照片细节影像不清晰度的是()。A、射线源尺寸B、射线源到胶片距离C、X射线能量D、X射线强度

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考题 ()尺寸与基本尺寸的代数差称为上偏差。A、最小极限B、最大极限C、最大D、最小

考题 单选题量具和量仪所能测出的最大和最小的尺寸范围,称为()A 示值范围B 测量范围C 示值稳定性

考题 单选题下面的叙述中正确的是()A 射线照片上影像的对比度决定了沿射线透照方向上可识别的细节尺寸B 射线照片上影像的不清晰度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸C 射线照片上影像的颗粒度决定了影像可记录的细节最小尺寸D 以上都对

考题 单选题决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是()A 对比度B 不清晰度C 颗粒度D 以上都是

考题 单选题射线照相灵敏度这个概念是用来描述()的A 射线照片记录、显示细节的能力B 射线照相能够发现的最小缺陷尺寸C 射线照相能够发现最小缺陷能力的定量评价D 以上都对

考题 单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A 射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B 射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C 对所有像质计统一规定的像质指数D 以上都不是

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考题 填空题按照经典理论,超声波检测方法所能检测的最小缺陷尺寸大约是()。

考题 判断题底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。A 对B 错

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